Voltus Insight AI 在高性能CPU核物理實現上的全流程應用 | |
所屬分類:技術論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大小:2701 K | |
標簽: 芯片設計 Insight AI IR-Aware | |
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文檔介紹:隨著高性能計算芯片設計向先進工藝節點演進,芯片集成度的飛躍式增長使得晶體管密度突破每平方毫米數億門級,導致電源分配網絡(PDN)的金屬線寬持續收窄,通孔電阻呈非線性上升,加上高密度邏輯單元在吉赫茲級時鐘頻率下的同步翻轉行為,顯著加劇了電壓降(IR Drop)風險。基于Cadence Voltus Insight AI feature,提出了一種針對高性能CPU核的物理實現的全流程電壓降優化方案,通過整合AI驅動的IR感知布局(IR-Aware Placement)、電源網絡加強(reinforce_pg)及Watch Box修復技術,能夠動態預測電源網格的電流分布熱點,對高功耗邏輯單元進行擺放優化,實現IR 熱點區域的提前預防和高效修復。結果表明,在相同條件下,不僅能節約時間,提高效率,電壓降修復率也從過去的66%顯著提升至96%,同時避免了時序(Timing)與設計規則(DRC)的惡化。 | |
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