| 應對多樣化數字接口測試挑戰的解決方案——基于可編程FPGA的測試儀器 | |
| 所屬分類：白皮書 | |
| 上傳者：Stone_Mei | |
| 文檔大?。?span>1015 K | |
| 標簽： FPGA Quartus 虹科電子 | |
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| 文檔介紹：現今，電子測試工程師面臨著大量多樣化的數字接口帶來的挑戰。軍事、航空、通信和汽車電子都同時使用工業標準和定制數字接口。專用特定接口的測試儀器和用于通用數字I/O接口的測試儀器可以支持以上大部分接口。專用測試儀器是非常昂貴的，通用數字I/O接口的測試儀器僅試用部分方案并且需要大量編程/調試工作，最終也會增加成本。然而，基于可編程FPGA的測試儀器可以提供成本合理的解決方案，并可選通用數字I/O接口還 | |
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