中國上海，2023年9月14日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社（“東芝”）今日宣布，進一步擴展ThermoflaggerTM過溫檢測IC產品線---“TCTH0xxxE系列”。該系列可用于具有正溫度系數（PTC）熱敏電阻的簡單電路中，用來檢測電子設備中的溫度升高，六款新產品于今日開始支持批量出貨。

　　為了使電子設備按規定運行，半導體和其他電子元件必須在設計參數范圍內工作。內部溫度是一個關鍵參數，特別是當它高于設計流程中的假設溫度時，它就可能成為安全性和可靠性方面的一個主要問題，因此需要過溫監測解決方案來檢測任何溫度升高。

　　當配置在具有PTC熱敏電阻（其電阻值隨溫度變化而變化）的簡單電路中時，Thermoflagger^TM過溫檢測IC不僅可以檢測溫度升高，還可以檢測置于熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化，并在溫度過高時輸出FLAG信號。例如，當Thermoflagger^TM檢測到異常發熱情況并向MCU發送FLAG信號時，MCU將關閉設備或改變正在產熱的設備或半導體的運行方式。通過串聯PTC熱敏電阻可同時在多個點進行過溫檢測。

　　這六款新產品分別是：TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述產品加上已經發布的TCTH021BE和TCTH022BE，進一步擴展了TCTH0xxxE系列產品線，使該產品線增加至8款產品。通過提供對兩種類型的PTCO輸出電流^[1]的支持，新產品擴大了PTC熱敏電阻的可選范圍，既可選擇推挽型或開漏型FLAG信號輸出類型^[2]，也可選擇使用或不使用FLAG信號鎖存功能^[3]。擴大產品選擇范圍，可以實現低電流消耗的靈活電路設計。

　　新產品采用小型，符合行業標準SOT–553封裝（東芝的封裝名稱為：ESV），確保TCTH0xxxE系列支持用戶為成套電子設備輕松配置過溫檢測系統，并助力實現尺寸和功耗的雙重改善。

　　除了已經發布的參考設計過溫檢測IC Thermoflagger^TM的應用電路（TCTH021BE／開漏型）之外，東芝在其官網上又發布了新版參考設計：過溫檢測IC Thermoflagger^TM應用電路（TCTH021AE／推挽型）。

　　東芝使用村田制作所（以下簡稱“村田”）提供的PTC熱敏電阻的相關技術信息來實現過溫檢測解決方案。村田建議將Thermoflagger^TM與PTC熱敏電阻結合使用。

　　未來，東芝將繼續擴展其產品線，推出采用各種封裝、器件特性不斷完善的產品，助力提高設計靈活性并實現碳中和目標。

　　開漏分配中FLAG信號輸出的操作示例

　　Thermoflagger^TM TCTH021AE電路板樣品

　　▲應用：

　　-移動設備（筆記本電腦等）

　　-家用電器

　　-工業設備等

　　▲特性：

　　-配置簡單，可與PTC^[1]熱敏電阻結合使用

　　-通過串聯PTC[1]熱敏電阻，可同時在多個點進行過溫監測。

　　-低電流消耗：

　　I_DD＝1.8μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）

　　I_DD＝11.3μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）

　　-小型標準封裝：SOT–553（ESV）

　　-擴大了PTC^[1]熱敏電阻的選擇范圍，具有兩種類型的PTCO輸出電流：

　　I_PTCO＝1.00μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）

　　I_PTCO＝10.0μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）

　　-高PTCO輸出電流精度：±8%

　　-FLAG信號輸出（PTCGOOD）可選擇推挽型和開漏型

　　-可選擇FLAG信號鎖存功能

　　▲主要規格：

　　注：

　　[1] PTCO輸出電流：由過溫檢測IC提供給PTC熱敏電阻的恒定電流。

　　[2] 當過溫檢測IC檢測到錯誤時，就會輸出FLAG信號。推挽型由兩個垂直堆疊的MOSFET組成。輸出電流以任一方向流入和流出。開漏型由一個MOSFET組成。輸出電流只向一個方向流動。

　　[3] FLAG信號鎖存功能在過溫檢測IC檢測到錯誤（即使只有一次）后保持FLAG信號。過溫檢測IC不能自行恢復；需要通過從MCU等將信號輸入到RESET引腳來恢復。

　　[4] 之前發布的產品

更多精彩內容歡迎點擊==>>電子技術應用-AET<<