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西門子發(fā)布 Tessent RTL Pro 強化可測試性設(shè)計能力
發(fā)表于：10/20/2023 5:21:00 PM
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基于FCM flow的小規(guī)模數(shù)字電路芯片測試
發(fā)表于：8/25/2023 2:51:00 PM
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MENTOR GRAPHICS TESSENT DEFECTSIM 榮獲《電子產(chǎn)品》2016 年度產(chǎn)品獎
發(fā)表于：2/7/2017 8:54:00 PM
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循環(huán)卷積DFT的優(yōu)化算法與仿真
發(fā)表于：5/22/2016 9:33:00 PM
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Mentor Graphics 發(fā)布 Veloce Apps 開啟硬件仿真新紀元
發(fā)表于：2/26/2016 7:33:00 PM
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全新Cadence Modus測試解決方案最高可將系統(tǒng)級芯片測試時間縮短三倍
發(fā)表于：2/23/2016 10:30:00 PM
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一種片上系統(tǒng)復(fù)位電路的設(shè)計
發(fā)表于：1/17/2013 4:35:00 PM
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LTE上行DFT/IDFT的一種設(shè)計實現(xiàn)
發(fā)表于：10/8/2011 3:17:24 PM
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一款雷達芯片的基于掃描路徑法可測性設(shè)計
發(fā)表于：3/2/2011 12:00:00 AM
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綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級測試
發(fā)表于：1/7/2011 12:00:00 AM
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提高DFT設(shè)計測試覆蓋率的一種有效方法
發(fā)表于：12/20/2010 12:00:00 AM
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SOC中多片嵌入式SRAM的DFT實現(xiàn)方法
發(fā)表于：10/1/2010 10:48:17 PM
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基于OFDM的無線移動通信
發(fā)表于：6/13/2010 12:00:00 AM
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利用AD5933的高精度生物阻抗測量方案
發(fā)表于：3/11/2010 12:00:00 AM
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