| XR芯片系統的EMU全場景AVIP快速迭代驗證方案 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>3900 K | |
| 標簽： 芯片驗證 EMU 仿真加速 | |
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| 文檔介紹：隨著XR領域的不斷發展，市場對全功能和更高性能的復雜XR芯片系統需求越來越強烈。需求傳導到芯片設計環節，呈現出芯片規模和復雜度增加的態勢，給芯片驗證收斂帶來的挑戰也同時不斷增大。如何在投片前做到關鍵指標驗證收斂，是每個芯片工程師和項目經理面對的難題。在XR芯片研發領域，為了解決這一難題，提出EMU全場景AVIP快速迭代驗證方案，其中EMU設備采用Cadence Palladium Z2，AVIP在Cadence VIP的基礎上，適配Palladium Z2 EMU環境，對接PCIe、MIPI、USB、UART等不同接口，并滿足仿真加速、數據比對等需求。通過在XR芯片系統中EMU全場景AVIP快速迭代驗證方案的應用，有效提升驗證收斂效率，為芯片的成功交付做到了有力支撐。 | |
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