| 集成電路卡數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制快速檢測方法 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：3639 K | |
| 標(biāo)簽： 集成電路 數(shù)據(jù)完整性 數(shù)據(jù)恢復(fù) | |
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| 文檔介紹：介紹了集成電路（Integrated Circuit，IC）卡數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制檢測方法，針對傳統(tǒng)單指令斷電檢測手段的局限性和不足提出二次斷電理論，用于檢測驗(yàn)證IC卡在執(zhí)行數(shù)據(jù)恢復(fù)過程中出現(xiàn)中斷的事務(wù)保護(hù)機(jī)制。采用時間統(tǒng)計(jì)法和功耗統(tǒng)計(jì)法兩種改進(jìn)方案，計(jì)算斷電測試有效時間區(qū)域，解決二次斷電檢測效率低下問題。最后通過實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證數(shù)據(jù)完整性保護(hù)機(jī)制快速檢測方法的有效性。 | |
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