| 面向密碼芯片設(shè)計階段的仿真?zhèn)刃诺腊踩苑治龇椒ㄑ芯? | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>4798 K | |
| 標簽： 密碼芯片 仿真功耗 泄漏檢測 | |
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| 文檔介紹：密碼芯片是密碼算法實現(xiàn)的重要載體，在信息系統(tǒng)中承擔(dān)了加解密、簽名、認證等功能，側(cè)信道分析是檢測密碼芯片安全性的重要手段，當(dāng)前行業(yè)內(nèi)通常采用專用設(shè)備進行側(cè)信道分析，該方法存在發(fā)現(xiàn)時間晚、修復(fù)成本高、硬件設(shè)備昂貴等問題。研究面向密碼芯片設(shè)計階段的能量采集與側(cè)信道分析方法，采用EDA工具在設(shè)計階段對密碼芯片的RTL代碼進行功能仿真，通過分析仿真生成的波形記錄文件，實現(xiàn)對能量跡的模擬和采集。采用Welch t檢驗、KL散度和相關(guān)能量分析方法，實現(xiàn)了對芯片RTL代碼的泄漏檢測、泄漏定位和側(cè)信道攻擊。通過對AES-128 RTL設(shè)計的仿真實驗，證明了該方法能夠正確地反映能量泄漏情況，且能夠在不借助專用硬件設(shè)備的條件下實現(xiàn)對密碼芯片早期設(shè)計階段的側(cè)信道泄漏安全風(fēng)險檢測。 | |
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