| 芯片樣品驗證平臺自適應(yīng)和同步測試功能的設(shè)計與實現(xiàn) | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：4381 K | |
| 標簽： 自適應(yīng) 同步測試 樣品驗證 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：目前，芯片設(shè)計公司在對量產(chǎn)級的芯片進行樣品驗證時，傳統(tǒng)的樣品驗證方法大多是基于芯片自身特點來設(shè)計相應(yīng)的測試設(shè)備，然后通過測試夾具對芯片樣品逐一測試，不同的芯片會設(shè)計不同的測試設(shè)備。提出了一種自適應(yīng)且可同步測試的樣品驗證平臺方案，既可以實現(xiàn)同時測試多顆芯片，也可以對不同接口的芯片進行測試；既可以進行可靠性實驗測試，也可以進行其他功能的測試，大大節(jié)省了測試設(shè)備的維護成本，提高測試效率。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號-2