| 中央處理器安全測試與自修復技術研究 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>635 K | |
| 標簽： 中央處理器 故障注入 安全測試 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：中央處理器在工業控制領域起到重要作用，其正常工作是工業控制中的重要穩定運行保障。主要研究中央處理器的安全測試與自修復相關技術。從故障注入到故障測試再到自修復，對相關安全技術作了比較介紹與分類總結，包括硬軟件的故障注入技術、掃描鏈、內建自測試、TSV等故障測試方法，以及以替代修復和容錯自修復技術。最后提出中央處理器安全協同模型，對各個技術的基本原理和創新點做出歸納總結，為未來中央處理器的故障處理技術發展提供安全設計全參考，在保證安全和性能的同時降低成本和能耗，助力工控設備安全穩定運行。 | |
| 現在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統工程研究所版權所有 京ICP備10017138號-2