| 綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)時(shí)間分析方法研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>464 K | |
| 標(biāo)簽： 綜合電子系統(tǒng) 重構(gòu) 時(shí)間分析 | |
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| 文檔介紹：針對綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)的不確定性、多樣性導(dǎo)致的系統(tǒng)狀態(tài)復(fù)雜的問題，對不同重構(gòu)模式下的重構(gòu)時(shí)間進(jìn)行分析。首先研究系統(tǒng)架構(gòu)和軟硬件配置，建立系統(tǒng)重構(gòu)和重構(gòu)時(shí)間模型，提出應(yīng)用遷移優(yōu)化算法。然后通過綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)驗(yàn)證平臺(tái)模擬故障，分析計(jì)算不同類型故障導(dǎo)致系統(tǒng)重構(gòu)消耗的時(shí)間。實(shí)驗(yàn)證明，不同類型的故障導(dǎo)致的系統(tǒng)重構(gòu)時(shí)間不同，優(yōu)化重構(gòu)藍(lán)圖和遷移過程可以有效縮短重構(gòu)時(shí)間。 | |
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