| 高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件國(guó)產(chǎn)化水平研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：613 K | |
| 標(biāo)簽： 《瓦森納協(xié)議》 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) ADC | |
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| 文檔介紹：高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在高能物理、粒子物理實(shí)驗(yàn)、輻射探測(cè)等科學(xué)研究中具有廣泛的應(yīng)用，是許多大科學(xué)裝置的關(guān)鍵設(shè)備。高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)核心器件主要包括ADC和FPGA，國(guó)外一些發(fā)達(dá)國(guó)家在這方面的研究長(zhǎng)期處于壟斷地位，高性能的ADC和FPGA是嚴(yán)格對(duì)我國(guó)實(shí)施技術(shù)管控的產(chǎn)品，因此研究基于國(guó)產(chǎn)化核心器件的高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)顯得尤為重要。基于高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的原理，根據(jù)《瓦森納協(xié)議》，梳理了西方國(guó)家對(duì)我國(guó)關(guān)鍵電子元器件以及測(cè)試儀器設(shè)備的技術(shù)封鎖情況，調(diào)研了國(guó)產(chǎn)高性能ADC芯片以及FPGA芯片的設(shè)計(jì)生產(chǎn)現(xiàn)狀并做了性能比對(duì)，同時(shí)分析了國(guó)內(nèi)外示波器以及數(shù)據(jù)采集儀的現(xiàn)狀并做了性能指標(biāo)方面的對(duì)比，最后討論了關(guān)鍵電子元器件國(guó)產(chǎn)化替代思路。 | |
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