| 一種面向SRAM型FPGA的三模冗余分區自修復方法研究 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>539 K | |
| 標簽： 單粒子效應 FPGA 三模冗余分區 | |
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| 文檔介紹：SRAM型FPGA的低成本及其現場可編程性使其在航空航天工業中很受歡迎。為解決FPGA受宇宙輻射引起的單粒子效應(Single Event Effect，SEE)，常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy，TMR)這一緩解技術。該技術通常與配置刷新技術一起用來加固基于SRAM的FPGA。傳統的TMR只能針對單個故障提供一次保護，而將三模冗余結構進行分區可以增強其環境適應性。研究了一種將配置刷新和分區三模冗余結合的方法，并采用PRISM工具進行模型驗證，結果表明該方法可以增強系統的可用性。 | |
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