| 基于國(guó)產(chǎn)PLC的分布式I/O冗余方法研究 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：654 K | |
| 標(biāo)簽： 可編程控制器 可靠性 I/O冗余 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：為了提高PLC控制系統(tǒng)中采集/輸出環(huán)節(jié)的可靠性，分析了冗余系統(tǒng)設(shè)計(jì)原理，結(jié)合現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用環(huán)境及實(shí)際需求，研究出一種基于國(guó)產(chǎn)PLC的分布式I/O冗余方法。針對(duì)采集數(shù)據(jù)類型分別介紹了數(shù)字量輸入/出、模擬量輸入/出冗余方案，該方法把運(yùn)行過(guò)程中定期對(duì)自身診斷結(jié)果作為冗余的診斷依據(jù)，結(jié)合用戶配置的冗余方案，提高采集/輸出數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確率。經(jīng)試驗(yàn)及現(xiàn)場(chǎng)某基地應(yīng)用可知，該方法提高了PLC控制系統(tǒng)的可靠性，可確保PLC系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定、高效、安全地運(yùn)行。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
aetmagazine 的最新分享
- 國(guó)產(chǎn)高性能PLC綜合測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)
- 批產(chǎn)衛(wèi)星自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)研究與實(shí)現(xiàn)
- 基于VMD-LSTM的非侵入式負(fù)荷識(shí)別方法
- 基于平均電流模式的同步Buck數(shù)字電源設(shè)計(jì)研究
- 基于以太網(wǎng)的FPGA遠(yuǎn)程調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 毫米波CQFN外殼地孔設(shè)計(jì)與優(yōu)化
- K波段緊湊型收發(fā)前端組件的設(shè)計(jì)
- 射頻模塊中晶振對(duì)電磁兼容影響研究
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2