| 一種低成本VPX背板總線測試設備 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>631 K | |
| 標簽： VPX背板 高速串行總線 信號完整性 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：分析了常見高速串行總線測試方案的優缺點，針對VPX高速背板結構和信號定義特征，提出了一種低成本的VPX背板高速串行總線的測試方法。該方法以FPGA為運算核心，通過巧妙的結構設計和高速串行電路設計，實現了單次同時測試最多16對高速收發通道，且可進行高速串行總線從物理層、鏈路層到協議層的信號誤碼率測試和眼圖測試，每通道測試速率可大于10 Gb/s。 | |
| 現在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統工程研究所版權所有 京ICP備10017138號-2