| 5G測試儀器關(guān)鍵技術(shù)研究與產(chǎn)品開發(fā) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：3005 K | |
| 標(biāo)簽： 5G測試 EVM校準(zhǔn) 新空口 | |
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| 文檔介紹：隨著5G技術(shù)研發(fā)試驗(yàn)和產(chǎn)品研發(fā)試驗(yàn)的推進(jìn)，作為支撐產(chǎn)業(yè)發(fā)展的測試儀器也進(jìn)入到發(fā)展快車道，國內(nèi)廠家已經(jīng)成功開發(fā)出基站、終端、外場與核心網(wǎng)等5G通信測試儀器。介紹了5G通信測試儀器的關(guān)鍵技術(shù)突破與最新產(chǎn)品成果，包括高性能5G通信測試平臺設(shè)計(jì)與制造、多標(biāo)準(zhǔn)5G NR物理層測試、5G異構(gòu)網(wǎng)絡(luò)空口協(xié)議解析、微波毫米波測試校準(zhǔn)等關(guān)鍵技術(shù)，也介紹了基站測試、終端綜測和空口監(jiān)測等測試儀器性能，這些測試儀器在5G通信產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)發(fā)揮了重要作用，為產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展提供了有力支撐。 | |
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