| ESD電熱模擬分析 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 標(biāo)簽： ESD 電子元器件 | |
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| 文檔介紹： 靜電放電（ＥＳＤ）是造成大多數(shù)電子元器件或電路系統(tǒng)破壞的主要因素。因此，電子產(chǎn)品中必須加上ＥＳＤ保護(hù)，提供ＥＳＤ電流泄放路徑。電路模擬可應(yīng)用于設(shè)計(jì)和優(yōu)化新型ＥＳＤ保護(hù)電路，使ＥＳＤ保護(hù)器件的設(shè)計(jì)不再停留于舊的設(shè)計(jì)模式。文中討論了器件由ＥＳＤ引起的熱效應(yīng)的失效機(jī)理及研究熱效應(yīng)所使用的模型。介紹用于ＥＳＤ模擬的軟件，并對一些相關(guān)模擬結(jié)果進(jìn)行了分析比較。 | |
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