DDS信號源在掃頻測試的應用
普源精電
章榮成
摘要： 電子設計中經常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等，而最常見的就是DUT的幅頻特性。
Abstract：
Key words :
</a><DUT" title="DUT">DUT" title="DUT">DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等，而最常見的就是DUT的幅頻特性。
最初，對于DUT的幅頻特性的測試是在固定頻率點上逐點進行。這種測試方法繁瑣、費時，且不直觀，有時還會得出片面的結果。例如，測量點之間的諧振現象和網絡特性的突變點常常被漏掉。
DDS(DirectDigitalSynthesis)技術是1971年3月由美國學者J.
圖表1DDS技術原理框圖
DDS技術的出現使得我們對于幅頻特性的測試變得異常簡單。我們只需要按照某種規律不斷的配置“頻率碼K”，就能夠得到一個頻率隨時間按照此規律在一定頻率范圍內掃動的信號，如此即可對DUT進行快速、定性或定量的動態測試。因此，對DUT的調整、校準及故障排除提供了極大的便利。
北京普源精電(RIGOL)最新推出的DG5000系列函數/任意波形發生器采用了DDS直接數字合成技術，可生成穩定、精確、純凈和低失真的輸出信號。本文僅以DG5000為例來詳細說明DDS信號源在掃頻測試中的具體應用。
1.DG5000提供1uHz～250MHz的掃頻范圍；
2.掃頻類型支持“線性掃頻”、“對數掃頻”和“步進掃頻”；
3.掃頻時間1ms～300s，同時支持“返回時間”、“起始保持”和“終止保持”的設置；
4.觸發方式包括“自動觸發”、“外部觸發”和“手動觸發”；
5.支持“標記頻率”的設置，可以輕易表示出掃頻信號任意點的頻率值。
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