針對(duì)高反射率（R＞99．7％）的光學(xué)樣品，德國(guó) IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法（Cavity Ring－Down Spectroscopy，CRDS）CRD高反射率測(cè)量?jī)x， 它通過(guò)對(duì)指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號(hào)的檢測(cè)，去掉了傳統(tǒng)檢測(cè)方法中激光能量起伏所引起的誤差， 大大提高了測(cè)量精度。

CRD 高反射率測(cè)量?jī)x原理

當(dāng)一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi)，忽略衍射及散射損耗，單色脈沖光在兩個(gè)腔鏡之間往返振蕩，每經(jīng)過(guò)一次循環(huán)透射出部分光，探測(cè)器通過(guò)接收光脈沖信號(hào)得到其以單指數(shù)形式衰減。

τ為衰蕩時(shí)間，指光子出射脈沖光強(qiáng)衰減為初始光強(qiáng)的1／e時(shí)經(jīng)歷的時(shí)間。C代表光速，L是代表腔長(zhǎng)，RM是兩個(gè)腔鏡的幾何平均反射率，散射V和吸收系數(shù)α忽略不計(jì)。則，衰蕩時(shí)間τ表示為：

從公式上可知，腔內(nèi)損耗越小，反射率越高，衰蕩時(shí)間越長(zhǎng)。

要計(jì)算待測(cè)樣品的反射率R，需要知道參考片的反射率Rref （詳見(jiàn)參考片說(shuō)明部分），則

CRD系統(tǒng)介紹

系統(tǒng)包含：

1． 激光光源

2． 光學(xué)零部件

3． A／D轉(zhuǎn)換器

4． 探測(cè)系統(tǒng)

更多信息可以來(lái)這里獲取==>>電子技術(shù)應(yīng)用-AET<<