如果法醫(yī)團隊能夠輕松地從留在犯罪現(xiàn)場的子彈殼上提取指紋，那絕對是一件非常好的事情，然而不幸的是，這樣做往往相當困難。不過現(xiàn)在，諾丁漢大學開發(fā)的一項新技術可以改變這種情況。

　　由于彈殼在槍中時暴露在火藥殘留物、高溫和高壓下，指紋化合物如氨基酸和脂質(zhì)在彈殼被彈出時往往被蒸發(fā)和/或降解。因此，從剩下的東西中獲取可用的指紋是一種挑戰(zhàn)，而彈殼是圓柱形的這一事實使其更具挑戰(zhàn)性--如果它們是平的，那么從它們身上提取不變形的指紋就會更加容易。

　　為了解決這些問題，由James Sharp博士領導的諾丁漢團隊研究了一種被稱為飛行時間二次離子質(zhì)譜（簡稱ToF-SIMS）的現(xiàn)有技術。

　　它涉及到將高能量的正離子束聚焦到一個表面上--如一個外殼的外面--在那里它們釋放出與之碰撞的二次離子。利用一個被稱為飛行時間分析儀的設備，這些二次離子然后根據(jù)它們的質(zhì)量電荷比相互分離產(chǎn)生一個表明樣品化學成分的光譜。

　　在這個過程中，彈殼在一個定制設計的平臺上緩慢旋轉(zhuǎn)，因此它的圓柱形形狀不是一個問題。

　　在對Webley Mk II左輪手槍發(fā)射的子彈的彈殼進行的測試中，該技術能夠揭示出諸如指紋脊和汗孔等細節(jié)--這些都是通過常用的氰基丙烯酸酯熏蒸技術無法獲得。并且重要的是，ToF-SIMS方法不會傷害指紋，使它們完好無損進而可供今后分析。

　　Sharp說道：“這確實可以為分析證據(jù)的新的可靠方法鋪平道路、確定感興趣的人并將他們與槍支中的彈藥聯(lián)系起來。”