便于獲取所有樣本類型的數據

　　JEOL Ltd. （TOKYO:6951）（總裁兼首席運營官：Izumi Oi）于2021年11月宣布開發并推出新型掃描電子顯微鏡（SEM）——JSM-IT510系列。

　　產品開發背景

　　掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術、金屬、半導體、陶瓷、醫學和生物學等各種領域。此外，SEM的應用范圍正在不斷擴大，不僅涉及基礎研究，還涵蓋制造現場的質量控制。因此，對更快、更輕松地獲取SEM圖像和分析結果數據的需求有所增加，例如能量色散X射線光譜（EDS）。

　　為了滿足這些需求并提高產量，我們開發出JSM-IT510系列，該系列進一步提升了我們備受青睞的InTouchScope?的可操作性。借助新增的Simple SEM（簡便SEM）功能，您現在可以將日常工作（重復性操作）“交給”儀器。

　　主要特性

　　新型“Simple SEM”功能

　　Simple SEM功能使用戶能夠方便地選擇SEM圖像的采集條件和視場角，然后自動采集SEM圖像。日常工作可以更高效地完成。

　　新型“低真空混合二次電子探測器（LHSED）”

　　這種新型探測器可收集電子和光子信號，即使在低真空條件下也能提供具有高信噪比和增強地形信息的圖像。

　　集成掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散X射線光譜儀（EDS）系統。

　　SEM和EDS的集成得到了進一步發展，Live Map（實時地圖）功能可以實時顯示觀測視場角的元素分布圖。

　　新的“實時3D”功能

　　當進行SEM觀察以獲得非均勻性和深度信息時，可以現場構建3D圖像。

　　實時分析功能

　　嵌入式EDS系統可在圖像觀測期間顯示實時EDS光譜，以實現高效的元素分析。

　　新的階段導航系統LS功能

　　新的階段導航系統LS可以獲得四倍于傳統型號（200 mm x 200 mm）的區域光學圖像。該功能使用戶能夠獲取觀測樣本的光學圖像，并通過簡單點擊光學圖像移動到所需的觀測區域。

　　Zeromag

　　使用我們的Zeromag功能，樣本導航比以往任何時候都更簡單。您可以使用光學圖像或支架圖形定位成像區域或指定多個視場角上的分析位置。

　　顯示特征X射線生成深度

　　有助于快速了解樣本的分析深度（參考）。

　　SMILE VIEW?實驗室，能夠對圖像和分析數據進行綜合管理。

　　便于在短時間內生成從收集的SEM圖像到元素分析結果的所有數據報告。

　　目標銷量

　　200臺/年