光譜分析中，采集到的光譜圖像中特定位置對應某種物質(zhì)性質(zhì)。不同物質(zhì)的光譜特性往往通過不同的峰呈現(xiàn)出來，通過尋找各個峰所在的位置，進而可以計算出該物質(zhì)的組成成分。

　　在半高寬計算中，也需要尋找各個峰所在的起始點和終止點的位置。

　　傳統(tǒng)的尋峰算法有比較法、導數(shù)法、高斯擬合法和對稱零面積法。

　　（1）比較法

　　光譜的波峰即為某個像元點的光譜強度比左右兩側的像元點光強都大的位置，比較法尋峰，即為尋找比左右兩側光強都大的像元點。該方法優(yōu)點是實現(xiàn)簡單，適合尋找獨立峰，缺點是無法識別重峰、雙肩峰等。

　　（2）導數(shù)法

　　導數(shù)法是將去噪后的光譜圖像看作是一條連續(xù)的曲線，然后對該曲線進行求導，利用導數(shù)的性質(zhì)找到峰的位置。具體可分為一階導數(shù)法、二階導數(shù)法和三階導數(shù)法。導數(shù)法的優(yōu)點是靈敏高，能夠識別重峰和弱峰。

　　（3）高斯擬合法

　　高斯擬合法是將光電傳感器接收到的光譜圖像看作是正態(tài)分布的高斯函數(shù)，利用高斯函數(shù)擬合來計算峰值的位置。該方法的優(yōu)點是準確度高。

　　（4）對稱零面積卷積法

　　對稱零面積卷積法尋峰是利用面積為零的窗函數(shù)與光譜數(shù)據(jù)進行卷積變換，變換之后的數(shù)據(jù)進行閾值處理獲得峰值位置。窗函數(shù)一般選取為洛倫茲、高斯和佛托克線性函數(shù)。佛托克線性函數(shù)是對洛倫茲函數(shù)和高斯函數(shù)的卷積。