0 引言

　　為了對抗激光對于固定軍事目標的威脅，激光對抗技術的研究已經成為一個重要課題。高性能激光告警接收機采用面陣探測器，具有高速峰值檢測和實時判斷的功能，能夠實現高速可靠地探測軍用制導武器所發出的各種波長的窄脈沖激光的目的。系統高層處理算法處理的數據量較低層算法少，算法的控制結構復雜，適于用運算速度高、尋址方式靈活、通信機制強大的DSP來實現。

　　數據送到DSP后，由于高能帶電粒子造成單粒子翻轉會導致程序無法正確運行，存儲數據的差錯也會對激光信號的判別造成影響。因此如何克服空間粒子效應的影響成為高性能DSP能否在空間中應用的關鍵。

1 基于光柵衍射的激光探測原理

　　激光告警設備是能夠對激光威脅信號進行識別、截獲、測量并做出實時告警的光電偵察設備，能夠在地面空間等環境工作。它以發射的光的功率、波長、調制特性和光信號的脈沖寬度、脈沖頻率、及編碼等技術參數為依據來制定相應的光對抗措施[1]。

　　入射激光經過接收窗口入射到光學子系統，然后在面陣焦平面探測器光敏單元成像，并通過FPGA采集信號，DSP快速處理，輸出結果經處理后將信息顯示在液晶顯示器上，顯示出入射激光波長和方向等信息。根據總體設計方案，探測實驗系統中光學子系統主要由激光接收窗口、光柵、透鏡組合，以及面陣焦平面探測器組成。衍射光柵激光波長和方向探測原理結構簡圖如圖1所示。

2 空間粒子效應及處理方法

　　單粒子效應在激光告警技術應用中可能出現的主要問題包括：程序存儲中數據改變，導致計算錯誤，不能正確判斷到來的激光信號的角度和波長信息；程序存儲區發生位變化，使各個內部程序不能正確執行；寄存器等系統功能失效等情況。單粒子效應主要故障類型見表1。

　　經統計，在上述故障中出現最多的是單粒子翻轉，它不會造成硬件損毀，可以通過采取有效的措施修復。在防止單粒子效應對電子芯片的影響時常用到的容錯措施有定期重配置、周期擦除、三模冗余、EDAC等手段[2]。

　　三模冗余(Triple Modular Redundancy，TMR)方法以實現簡單和效果可靠被廣泛地應用于單粒子翻轉的容錯處理中。由于片外冗余方式易增加電路的復雜性和功耗等，這里采用片內冗余：外置存儲器分配三個地址空間對程序數據燒寫操作，保證某一位地址空間的數據出現錯誤時仍有其他程序正確執行[3，4]。

3 系統可靠性設計

　　DSP在整個系統中主要完成數據處理，確定激光的波長、方位角和俯仰角，DSP程序的正確運行對于整個系統至關重要。DSP抗單粒子主要從硬件和軟件方面來考慮，硬件方面采用“看門狗”電路進行DSP故障的實時檢測，軟件方面采用TMR的程序設計。

　　3.1 看門狗電路

　　針對可能出現的程序跑飛甚至是死機問題，系統在電路中設計了專門的硬件“看門狗”進行加固。MAX706是MAXIM公司推出一種專門用來監控微處理器工作狀態的監控電路，具有“看門狗”功能。當檢測到DSP發生故障死機時產生復位脈沖。原理圖如圖2所示。

　　WDI端與DSP的IO口連接，主程序產生的脈沖信號通過GPIO3引腳傳輸給看門狗電路的輸入端，當DSP程序出現問題死機，在間隔1.6 s后看門狗定時器溢出，WDI拉低產生復位操作。電路還提供了手動復位方式，通過S3接通電路，電平拉低后使能人工復位輸入端MR,輸出有效的復位信號。

　　3.2 數據的預處理

　　處理數據前對從FPGA傳輸過來的數據進行預先處理，在DSP程序中對幀頭標志、圖像亮點個數標志等影響程序運行流程的標志位進行TMR設計，然后判斷圖像中亮點的個數。激光經過閃耀光柵發生衍射，再經過透鏡組入射到探測器上，會有正負一級和零級3個亮點。程序判斷出有3個亮點后，才繼續運行計算波長方位角和俯仰角。其流程圖如圖3所示。

　　3.3 DSP程序燒寫與程序引導中的抗SEU設計

　　用高性能、超低功耗、部門架構靈活等特點的Flash存儲器CMOS 3.0V引導扇區閃存AM29LV160作為DSP的外部程序存儲器，將主程序工程做三模冗余備份。首先將引導程序在內的所有程序下載到DSP內存RAM（0x00000000）中，進而對Flash進行數據燒寫，在寫入Flash中存儲時存入不同的地址空間做備份處理。部分程序代碼如下：

　　void Flash(void)

　　{

　　unsigned short j;

　　int i=0;

　　i= ReadID();

　　EraseChip();   //擦除Flash

　　for(i=0;i<0x40000;i+=2)

　　{

　　j=*(unsigned short *)i;

　　WriteFlash(0x90000000+i,j);

　　WriteFlash(0x90040000+i,j);

　　WriteFlash(0x90080000+i,j);

　　}

　　}

　　與RAM型器件中出現的單粒子翻轉現象而引起的故障不同，Flash的單粒子翻轉類錯誤長期存在。針對Flash器件可能出現的單粒子翻轉現象，采用三模冗余結合定時刷新技術。在進行完差錯檢驗并得到正確的數據以后，每隔一段時間自動執行Flash燒寫并進行再次備份的方式，將原來有可能累積的錯誤數據不斷擦除，即能確保設備的運行速度也保證了即使設備處于長時間的輻射影響中，也不會使錯誤積累。

　　3.4 差錯檢驗及校正

　　備份在Flash中的程序在下載到DSP以后，為了保證能夠正確運行，需要在運行之前進行差錯檢驗和表決，驗證是否有bit位發生變化。這里通過在上電自舉的二次引導程序中增加輸出數據的差錯判決單元的方法來實現這一功能。如果在判決中發現有地址中的數據出現錯誤則進行校正，確保運行的程序正確無誤[5，6]。

　　引導程序以逐位檢驗的方式進行檢錯，表決時采用三中取二原則，對三個主程序的每一個地址的各位依次進行表決，以確定要運行的主程序數據。其原理圖如圖4所示。

　　差錯檢驗及表決過程如下：

　　cmpeq B3,B2,B0//比較寄存器B3和B2，

　　//相等時B0置一，否則置零

　　[!B0] cmpeq B3,B1,B0//若B0不等于一比較

　　//B3和B1，相等則將B0置一，否則置零

　　[!B0] cmpeq B2,B1,B0

　　[!B0] stw  B1,*B3//若B0的值不等于一，

　　//則將寄存器B3地址中的數據存入B1中

　　stw  B3,*B4++//將寄存器B4地址中的數據

　　//寫入B3，尋址后B4自動加一

　　add  1,A1,A1

　　cmplt A1,B5,B0  //A1與B5比較，A1小于B5時

　　//B0置1，否則置零

　　[B0] b loop//B0為1程序跳至loop循環

　　b_c_int00//否則跳至主程序入口

　　在進行二次引導的時候，從起始地址開始進行依次判決并循環操作直到最后一位地址結束，隨后進入主程序執行相關操作。

4 實驗

　　受實驗條件限制無法模擬高能粒子輻射環境，針對抗單粒子翻轉只對DSP上電引導程序差錯屏蔽功能實驗驗證：在一個備份地址中寫入錯誤數據i，執行完操作后可以看到DSP內存空間中的數據更新為校正后的正確數據。實驗步驟如下：

　　(1)首先在ccs3.3中對引導程序和主程序進行編譯，正確無誤后通過JTAG接口下載燒寫進DSP內部RAM中。運行Flash燒寫程序將數據存至三個不同的地址空間作為備份，結果如圖5所示。

　　(2)關閉ccs使開發板脫離仿真環境，對DSP進行重新上電啟動上電自舉程序，DSP將會在二次引導時完成差錯檢驗及校正，之后進行主程序的執行。利用DSP仿真通過JTAG接口查看DSP內部存儲空間中的數據。能夠驗證已將錯誤屏蔽掉。結果如圖6所示。

5 結論

　　本文解決了激光告警設備進行實時高速激光信號采集與處理時高能粒子翻轉造成DSP芯片無法正常工作的問題。提出了以對外擴展非易失性存儲器Flash芯片作為存儲模塊，并采用自啟動技術進行程序的引導，調用以及執行。通過信號預處理、三模冗余以及在引導程序中增加判決單元進行檢驗糾錯的方法進行DSP抗輻射程序的加固。保證了設備能夠在脫離PC進入空間環境后穩定運行。

參考文獻

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　　[2] 周順燕，吳丹.一種基于Flash型FPGA的高可靠系統設計[J].微計算機信息，2009，25(8)：134-136.

　　[3] 邢克飛，楊俊，周永彬，等.星載高性能DSP加固設計方法研究.[J]電子器件，2007，30(1)：206-209.

　　[4] 王大慶，劉曉旭，王宇，等.基于軟件的星載DSP減緩單粒子效應措施研究[J].空間電子技術，2013(1)：40-43.

　　[5] 鄭歡歡，穆占杰.基于C6000系列DSP片外Flash自啟動方法[J].信息化研究，2011，37(5)：34-37.

　　[6] 馮軼，衛育新.基于S320C6713及AM29LV800B的上電自舉設計[J].電子設計工程，2009，17(2)：82-84.