Advantest 集團（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下公司惠瑞捷 (Verigy)第四度榮獲新加坡商星科金朋股份有限公司“最佳供應商獎”。 星科金朋股份有限公司（新加坡證券交易所：STATSChP）是半導體封裝設計、組裝、測試、經銷解決方案的領先企業(yè).此獎項于 2007 年創(chuàng)立以來，惠瑞捷每年皆贏得此項殊榮。
　
　　星科金朋的“最佳供應商獎”旨在表揚在成本、質量、交貨、技術、服務、支持等方面綜合表現(xiàn)最佳的材料與設備供應商。
　
　　星科金朋執(zhí)行副總裁兼營運總監(jiān) Wan Choong Hoe 表示 :“惠瑞捷 V93000 測試平臺的靈活性，使我們能夠在行業(yè)情況變化的同時，重新設定并重新部署半導體測試資源。隨著產業(yè)逐漸整合通訊、消費、計算平臺，我們看到了成長的機會。我們能夠提供集成供應鏈解決方案，以及擁有靈活的、具有成本效益的測試平臺（包含惠瑞捷全新的 V93000 Smart Scale），這些能力使我們更好地提供領先的全面的服務，以支持我們客戶的擴大與價值增長。”
　
　　惠瑞捷全球銷售、服務及支持執(zhí)行副總裁 Pascal Ronde 表示 :“我們很榮幸今年能因惠瑞捷對于星科金朋經營策略所貢獻的價值，再次獲得認可。我們期待借由提供星科金朋廣泛的高產能、高性能的測試功能，繼續(xù)雙方的合作關系。”
　
　　可擴展的V93000平臺具備數(shù)種不同的配置，以便于測試無線通訊集成電路、消費性數(shù)字設備、微處理器、圖形處理器、高速接口、高速內存等諸多裝置時，提供最優(yōu)性能與經濟效益。如今，為滿足客戶的新需求，惠瑞捷擴展了V93000系列，引進其新一代的 V93000 Smart Scale™ 可擴展測試系統(tǒng)。此系統(tǒng)已為其贏得市場，其中的客戶包含星科金朋。新一代的 V93000 Smart Scale 專為測試 28 納米及更小尺寸的設計節(jié)點，以及 3D 半導體設備架構而設計， 降低了測試成本，同時為并行測試與業(yè)界首創(chuàng)的全方面晶圓測試提供更好的解決方案。Smart Scale 系統(tǒng)可容納比以往 V93000 卡多達兩倍的卡通道，同時使測試速度加快一倍。這些先進的功能，加上業(yè)界領先的數(shù)字性能、高速 I/O 靈活性、系統(tǒng)級壓力測試、protocol engine per pin、實時內存仿真、SmartLoop™ per-pin 技術，以及增強的軟件功能，使得新一代的 V93000 Smart Scale 能夠提升測試的涵蓋范圍，縮短上市時間并提供卓越的測試經濟效益。