如今，所有SOC都使用掃描結(jié)構(gòu)來檢測(cè)設(shè)計(jì)中的任何制造缺陷。掃描鏈專為測(cè)試而設(shè)計(jì)，按串行形式連接芯片的時(shí)序元件。由于掃描元件之間缺少組合邏輯，因此這些掃描鏈容易出現(xiàn)保持故障。除了采用小于90納米的技術(shù)外，OCV（片上工藝偏差）對(duì)時(shí)序裕量有著巨大的影響。因此，除非設(shè)計(jì)在多個(gè)拐角處實(shí)現(xiàn)時(shí)序簽核（sign-off），否則極有可能出現(xiàn)保持故障，尤其是在掃描鏈等保持關(guān)鍵路徑上。這些保持故障會(huì)導(dǎo)致芯片無法在實(shí)際的應(yīng)用中使用（即便芯片能夠在功能場(chǎng)景中完全運(yùn)行也會(huì)如此）。如果芯片中出現(xiàn)這些故障，將會(huì)降低成品率，影響產(chǎn)量，由此導(dǎo)致設(shè)計(jì)公司蒙受巨大的經(jīng)濟(jì)損失。因此，我們需要設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的掃描結(jié)構(gòu)來解決上述問題。
在本文中，我們將首先快速回顧鎖存器與觸發(fā)器的時(shí)序基本概念。在下一節(jié)中，我們將介紹掃描鏈以及與其相關(guān)的時(shí)序閉合問題。然后，我們將解釋如何在掃描鏈中使用鎖存器和觸發(fā)器創(chuàng)建強(qiáng)大的掃描結(jié)構(gòu)，以避免在小于90納米的技術(shù)中出現(xiàn)時(shí)序故障。我們將介紹最優(yōu)秀的解決方案，滿足掃描鏈中所有可能出現(xiàn)的時(shí)序元件組合的時(shí)序要求。
建立/保持時(shí)序概述
觸發(fā)器和鎖存器是時(shí)序電路的兩個(gè)基本構(gòu)件。觸發(fā)器在所應(yīng)用的時(shí)鐘脈沖的活動(dòng)邊沿（正或負(fù)）更改其狀態(tài)。觸發(fā)器在無活動(dòng)時(shí)鐘邊沿時(shí)只保持其輸出。另一方面，鎖存器是電平敏感器件，它不斷對(duì)其輸入進(jìn)行采樣，并相應(yīng)地在某些電平啟動(dòng)信號(hào)的活動(dòng)脈沖電平（正或負(fù)）上更改其輸出。觸發(fā)器采用主從配置，有兩個(gè)鎖存器在彼此相對(duì)的活動(dòng)電平上以級(jí)聯(lián)方式工作。一個(gè)觸發(fā)器的面積幾乎是鎖存器面積的兩倍。
為了實(shí)現(xiàn)同步設(shè)計(jì)，我們需要確保觸發(fā)器/鎖存器的輸出不處于亞穩(wěn)狀態(tài)。這可以通過在設(shè)計(jì)中滿足建立和保持檢查要求來確保。
圖1
在觸發(fā)器中，1-1是保持檢查，而1-3是用于單周期操作的建立檢查（圖1）。我們需要確保由觸發(fā)器1發(fā)出的數(shù)據(jù)在下一個(gè)活動(dòng)邊沿之前由觸發(fā)器2捕獲。同時(shí)，我們也需要確保由觸發(fā)器1發(fā)出的數(shù)據(jù)在相同的活動(dòng)邊沿上沒有被觸發(fā)器2捕獲。
圖2
當(dāng)?shù)诙€(gè)觸發(fā)器被負(fù)邊沿觸發(fā)后，建立檢查將是1-2（見圖2），而保持檢查將發(fā)生在上一個(gè)負(fù)邊沿（見圖2）。這意味著由觸發(fā)器1發(fā)出的數(shù)據(jù)不應(yīng)被之前觸發(fā)器2的下降沿捕獲。除非我們擁有超過半個(gè)周期的時(shí)鐘偏移，否則無法以實(shí)時(shí)的方式將其實(shí)現(xiàn)。
因此，在正-正或負(fù)-負(fù)觸發(fā)器對(duì)中，建立檢查默認(rèn)為一個(gè)周期，保持檢查為零周期，而在正-負(fù)或負(fù)-正觸發(fā)器對(duì)中，建立檢查默認(rèn)為半個(gè)周期，而保持檢查為反向的半個(gè)周期。現(xiàn)在讓我們了解一下鎖存器中的時(shí)序檢查概念。
掃描鏈
掃描鏈用于在SOC中執(zhí)行測(cè)試。設(shè)計(jì)中的所有寄存器以串行形式連接，外部芯片提供刺激，然后讀出這些鏈的輸出，監(jiān)測(cè)是否有固住/狀態(tài)轉(zhuǎn)換故障。當(dāng)今的SOC都非常復(fù)雜，并且在單一芯片中具有多個(gè)時(shí)鐘域。雖然在邏輯合成之后掃描會(huì)拼接出一個(gè)設(shè)計(jì)，一般還是需要注意將具有相同時(shí)鐘結(jié)構(gòu)的觸發(fā)器拼接在同一個(gè)掃描鏈中。但是，由于可用于最高級(jí)別的掃描輸入/輸出端口是有限的，因此在不同時(shí)鐘域之間混合寄存器是無法避免的。使掃描鏈具有不平衡的長(zhǎng)度也不是最佳解決方案，因?yàn)檫@樣會(huì)增加總體測(cè)試時(shí)間。因此，這種設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)會(huì)在之后的設(shè)計(jì)階段中導(dǎo)致時(shí)序閉合問題。因?yàn)閽呙?a class="innerlink" href="http://www.jysgc.com/tags/位移" title="位移" target="_blank">位移在低頻進(jìn)行，并且觸發(fā)器對(duì)，之間需要的邏輯最小，如果有的話，因此建立閉合將不是問題。但是，因?yàn)樽钚∵壿嫼陀|發(fā)器對(duì)之間出現(xiàn)的偏移，這些路徑是關(guān)鍵的保持路徑。正如我們?cè)谇懊嫠懻摰模驗(yàn)閬碜圆煌蛑械挠|發(fā)器在掃描鏈中被混合，所以在許多情況下發(fā)出和捕獲觸發(fā)器之間會(huì)出現(xiàn)巨大的偏移。在設(shè)計(jì)的后期階段，由于噪聲的影響會(huì)出現(xiàn)許多保持時(shí)間違規(guī)，這將導(dǎo)致無論在穩(wěn)定或閉合設(shè)計(jì)中都會(huì)出現(xiàn)保持緩沖，從而引發(fā)設(shè)計(jì)故障。
更差的情況可能是，我們的減額裕量可能并不充足，并且我們僅可以從硅片上發(fā)現(xiàn)保持故障。如果異常的時(shí)鐘路徑非常巨大，并且硅片上的實(shí)際偏差高于預(yù)計(jì)偏差，則有可能會(huì)出現(xiàn)這種情況。當(dāng)我們進(jìn)一步使用小于90納米的CMOS技術(shù)時(shí)，偏差影響將變得越來越占主導(dǎo)地位，并將導(dǎo)致硅片上出現(xiàn)許多保持偏差。掃描移位路徑中的保持故障會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的后果。需要進(jìn)行多次調(diào)試，并且需要花許多時(shí)間來檢測(cè)硅片上的故障鏈。當(dāng)我們也具有用于掃描的壓縮邏輯時(shí)，這種情況會(huì)變得更加糟糕。即使檢測(cè)到了故障鏈，我們也需要將其阻塞，這將導(dǎo)致減少測(cè)試覆蓋范圍。
總之，掃描鏈中的保持故障風(fēng)險(xiǎn)很高，必須實(shí)現(xiàn)足夠強(qiáng)大的設(shè)計(jì)才能處理這些不確定因素。
可以有多種解決方法，例如，對(duì)掃描鏈重新排序，根據(jù)寄存器的位置重新布置掃描鏈。盡管這些技術(shù)非常容易獲得，設(shè)計(jì)者也必須對(duì)其進(jìn)行仔細(xì)探究，正如我們前面所討論的，掃描鏈在兩個(gè)時(shí)鐘域之間交叉的情況是不可避免的。
解決這種問題的一種更為有效的方式是提前采取措施，并在構(gòu)建掃描鏈的邏輯合成階段處理這些問題。來自相同時(shí)鐘門控邏輯的所有觸發(fā)器都應(yīng)拼接在一起，并且在這些觸發(fā)器束的末端可以插入一個(gè)鎖定的鎖存器，以避免從這個(gè)域的最后一個(gè)觸發(fā)器到下一個(gè)時(shí)鐘域的第一個(gè)觸發(fā)器之間出現(xiàn)任何保持故障。
圖3所示的例子將有助于我們理解這一概念。
圖3
如果時(shí)鐘周期為50ns并且偏移為5ns，我們必須在設(shè)計(jì)后續(xù)階段的觸發(fā)器3和觸發(fā)器4之間插入具有相當(dāng)于5ns以上減額裕量的保持緩沖器。正如前面所討論的，由于小于90納米設(shè)計(jì)中的ocv，我們的標(biāo)準(zhǔn)減額可能因?yàn)楫惓r(shí)鐘路徑超出特定限制而變得并不充足。例如，對(duì)于具有10個(gè)額外時(shí)鐘緩沖器的捕獲路徑來說，每個(gè)時(shí)鐘緩沖器只具有5ps偏差（超出并超過減額值）將導(dǎo)致50ps的偏離。另外，由于OCV的因素。這一偏移可能會(huì)超過5ns，該一裕量可能并不充足。
解決上述問題的解決方案是在觸發(fā)器3輸出中插入鎖定的鎖存器，同時(shí)使鎖定的鎖存器具有與觸發(fā)器3相同的延遲。
lockup latch:鎖定鎖存器；clock gating：門控
zero cycle check hold, easy to meet: 零周期檢查保持，易于滿足；
shifting of data from flop 3 to 4 is still in one shift cycle：從觸發(fā)器3到觸發(fā)器4的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移仍然保持在一個(gè)周期內(nèi)。
Hold check is half cycle back now, much relaxed now: 保持檢查現(xiàn)在只占后半個(gè)周期，比以前輕松很多
圖4
正如以上波形中所示（圖4），當(dāng)我們?cè)?觸發(fā)器3 和觸發(fā)器4之間插入鎖定鎖存器時(shí)，我們的時(shí)序路徑將被分為兩個(gè)階段。
1. 從觸發(fā)器3到鎖定鎖存器
保持檢查從1-1開始，它仍然是零周期檢查，但是因?yàn)闆]有偏移，因此非常簡(jiǎn)單易行。默認(rèn)建立檢查從1-2開始。
2. 從鎖定鎖存器到觸發(fā)器4
保持檢查從2-1開始。這是插入鎖定鎖存器的主要優(yōu)勢(shì)和動(dòng)機(jī)。保持是向后移位半周期，現(xiàn)在即使我們的時(shí)鐘偏移高達(dá)半個(gè)移位時(shí)鐘周期，我們?nèi)跃哂凶銐虻脑Ａ俊＿@可以確保在這種情況下不會(huì)出現(xiàn)任何保持偏差。
建立檢查從2-3開始。在2-3期間鎖存器是透明的，這一階段中捕獲的任何數(shù)據(jù)都將被傳輸至觸發(fā)器4，直到邊沿 3（減去觸發(fā)器的建立時(shí)間）。我們可以看到，從觸發(fā)器1到鎖定鎖存器之間的建立檢查也可以輕松完成。1-2是默認(rèn)檢查，但是鎖存器在整個(gè)半個(gè)周期的過程中都是透明的，在理想情況下，建立檢查可以向邊沿3位移。（這一概念被稱為鎖存器借用）。
此處，另外一個(gè)需要注意的重要事項(xiàng)是該鎖定鎖存器應(yīng)具有與發(fā)出觸發(fā)器時(shí)鐘相同的時(shí)鐘，而不是與捕獲觸發(fā)器時(shí)鐘相同。正如我們?cè)谏厦嫠吹降模|發(fā)器3到鎖存器的保持檢查仍然是1-1（零周期檢查）。如果鎖定鎖存器具有與捕獲 觸發(fā)器時(shí)鐘相同的時(shí)鐘，我們將不會(huì)得到任何優(yōu)點(diǎn)。因此，理想的解決方案是在時(shí)鐘樹結(jié)構(gòu)中發(fā)出觸發(fā)器和鎖定鎖存器都由相同的時(shí)鐘緩沖器驅(qū)動(dòng)。
以上示例說明，鎖存器可以在掃描移位路徑中有效地混合保持。也許有人會(huì)提出疑問，我們是否也可以通過插入保持緩沖器或延遲cell來修復(fù)這些偏離。但是，快速查看保持緩沖器的面積，延遲cell和鎖存器表明，保持緩沖器適合用于混合較小的保持偏離，但是如果偏離較大，則鎖存器在面積和延遲方面都比緩沖器更有優(yōu)勢(shì)。使用延遲cell時(shí)，不同操作條件之間始終存在巨大的偏離風(fēng)險(xiǎn)，因此應(yīng)當(dāng)有選擇地、巧妙地使用這些cell。在另一方面，鎖存器在任何操作條件下始終存在半個(gè)周期的延遲。
在最后一節(jié)中，我們將考慮各種情況，找出在掃描鏈的發(fā)出和捕獲觸發(fā)器之間出現(xiàn)巨大的時(shí)鐘偏移時(shí)修復(fù)保持故障的最適合的解決方案。
不同情形
情形1：正-正邊沿觸發(fā)觸發(fā)器之間
我們?cè)谝陨鲜纠邪诉@一情況，可以使用負(fù)電平鎖存器。
情形2：負(fù)-負(fù)邊沿觸發(fā)觸發(fā)器之間
通過上述相同的模擬，可以使用正電平鎖存器。
情形3：負(fù)-正邊沿觸發(fā)觸發(fā)器之間
我們已經(jīng)了解到保持在此處非常輕松。此處不需要鎖定元件。
情形4：正-負(fù)邊沿觸發(fā)觸發(fā)器之間
這是一個(gè)非常有趣的情形。從時(shí)序的角度來看，這種情況不會(huì)造成問題，但是在掃描移位中這是一個(gè)非法連接。由于在ATPG中，時(shí)鐘被視為返回至零波形（在移位完成后，時(shí)鐘將變?yōu)榛顒?dòng)低電平），如果我們?cè)试S這種交叉，我們將發(fā)現(xiàn)在掃描移位后，所有此類的正-負(fù)對(duì)在時(shí)鐘脈沖后將具有相同的值。因?yàn)樗杏|發(fā)器都不是可以獨(dú)立控制的，因此這將導(dǎo)致測(cè)試覆蓋范圍減少。在拼接時(shí)應(yīng)該避免出現(xiàn)這種情況，但是有時(shí)候無法避免，因?yàn)榇嬖趬嚎s邏輯或硬宏。
我們可以在正和負(fù)觸發(fā)器之間插入一個(gè)正電平鎖定鎖存器，這樣將解決ATPG問題，但是同時(shí)也會(huì)帶來時(shí)序問題，因?yàn)楸３謾z查在從觸發(fā)器到鎖定鎖存器以及從鎖存器到負(fù)邊沿觸發(fā)器之間將再次變?yōu)榱阒芷跈z查。
另一個(gè)解決方案將插入一個(gè)啞觸發(fā)器，可以在這些觸發(fā)器之間的正邊沿或負(fù)邊沿上工作。應(yīng)該注意的是，在移位后啞觸發(fā)器將仍然具有與第一個(gè)觸發(fā)器或第二個(gè)觸發(fā)器相同的值，這取決于它是在正邊沿觸發(fā)還是在負(fù)邊沿觸發(fā)，但這不會(huì)導(dǎo)致任何問題出現(xiàn)，因此它不是一種功能性觸發(fā)器，我們不會(huì)以任何方式在任何位置使用它來捕獲數(shù)據(jù)。如果我們決定插入正邊沿觸發(fā)器，發(fā)出 觸發(fā)器的時(shí)鐘延遲和該dummy 觸發(fā)器將相同，因?yàn)樗鼘⑹橇阒芷诒３謾z查，并且啞觸發(fā)器到下一個(gè)觸發(fā)器將是半周期保持檢查，同樣，如果我們插入啞負(fù)邊沿觸發(fā)器，捕獲觸發(fā)器和啞負(fù)邊沿觸發(fā)器的延遲是相同的。
這些就是設(shè)計(jì)中可能存在的觸發(fā)器之間的所有四種情況，但有時(shí)候這些情況并不十分明顯。例如，在掃描具有硬宏且是預(yù)拼接的設(shè)計(jì)時(shí)需要特別注意。許多情況下我們并不具備針對(duì)硬宏的netlist/spef/timing約束，因此我們建議在這些硬宏之前插入鎖定鎖存器，以防這些硬宏的所有者將其丟失。另外一個(gè)此類示例是burn-in模式，設(shè)計(jì)中的掃描鏈將被連接在一起，以便同時(shí)切換所有觸發(fā)器。因此同樣存在這種可能性，也就是說鏈中的最后一個(gè)元件和下一個(gè)鏈的第一個(gè)元件具有時(shí)序關(guān)鍵邏輯或無效的正-負(fù)交叉。對(duì)于此種情形，理想的情況下應(yīng)該注意RTL本身，因?yàn)樵O(shè)計(jì)者在將這些掃描鏈連接在一起能夠更好地了解掃描元件的順序。如果未將其考慮在內(nèi)，最佳的做法是在每個(gè)鏈的結(jié)尾處插入相應(yīng)的鎖定鎖存器。
通過采用上述技巧和指導(dǎo)，設(shè)計(jì)者可以在其芯片上實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的掃描結(jié)構(gòu)。在出現(xiàn)建立故障的情況下，設(shè)計(jì)可以在更低的頻率上運(yùn)行，但是在出現(xiàn)任何重大保持故障時(shí)，邏輯的既定功能是無法預(yù)測(cè)的。掃描位移中的保持故障非常嚴(yán)重。它會(huì)在測(cè)試期間極大地縮小測(cè)試覆蓋范圍。因此，我們需要一個(gè)強(qiáng)大的掃描結(jié)構(gòu)，解決我們前面所討論的潛在的掃描移位故障問題。相應(yīng)的鎖定類型元件可以完美地解決此類問題，因?yàn)樗梢栽谌魏尾僮鳁l件下確保半個(gè)周期的延遲。