《電子技術(shù)應(yīng)用》
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門電路延遲時間的Multisim仿真測試方案
摘要: 摘要:介紹了用Multisim仿真軟件測試門電路延遲時間的方法,提出了三種測試方案,即將奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路,用虛擬示波器測試所產(chǎn)生振蕩信號的周期,計算門的傳輸延遲時間;奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形
關(guān)鍵詞: Multisim 門電路延遲
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摘  要:介紹了用Multisim 仿真軟件測試門電路延遲時間的方法,提出了三種測試方案,即將奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路,用虛擬示波器測試所產(chǎn)生振蕩信號的周期,計算門的傳輸延遲時間;奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路,用虛擬示波器測試其中一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間;在一個門的輸入端加入矩形脈沖信號,測試一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間。所述方法的創(chuàng)新點是,解決了受示波器上限頻率限制實際硬件測試效果不明顯的問題,并給出Multisim 軟件將門的初始輸出狀態(tài)設(shè)置為0 時,使測試電路不能正常工作的解決方法。

  0   引  言

  門電路的傳輸延遲時間tpd 是表示工作速度的指標,實驗室硬件測量的一般方法是,將N 個門( N為奇數(shù)) 首尾相接構(gòu)成振蕩周期為T = 2N tpd的環(huán)形振蕩電路,用示波器通過顯示的波形測量出振蕩周期T后,再計算出傳輸延遲時間tpd。

  由于門的傳輸延遲時間tpd 很短,測量時受示波器上限頻率限制,測量效果較差,而用Mult isim 軟件仿真測試,可獲得理想的實驗效果。

  以下分析用Mult isim 2001版本,所得結(jié)論也適于其他版本。

  1   Multisim仿真測試方案

  1. 1   測試方案1

  將奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路,用虛擬示波器測試所產(chǎn)生振蕩信號的周期,計算門的傳輸延遲時間。

  設(shè)所用門的個數(shù)為N ,振蕩信號的周期為T ,則傳輸延遲時間為:



  以反相器74LS04N 作為仿真實驗器件,構(gòu)建仿真實驗電路如圖1 所示。

 測試方案1 的仿真實驗電路
 


圖1  測試方案1 的仿真實驗電路

  由于Mult isim 軟件將每個門的初始輸出狀態(tài)設(shè)置為0,直接用奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路進行仿真時,出現(xiàn) " nable to determine the simulatiONtimeSTep automatically" 的提示,無法同步仿真模擬。

  解決的方法是在左邊第一個門U1A 的輸入端接入轉(zhuǎn)換開關(guān)J1 ,仿真時先將開關(guān)J1 置于接地狀態(tài),電路對輸入的0 信號進行處理后便脫離設(shè)置的初始輸出狀態(tài),再將轉(zhuǎn)換開關(guān)J1 置于接輸出端構(gòu)成環(huán)形振蕩電路。

  仿真前,可對74LS04N 的上升延遲時間及下降延遲時間進行設(shè)置,如設(shè)置r ise delay= 10 ns,fall delay=10 ns。

 

 

  仿真時示波器顯示的波形及振蕩周期測試如圖2所示。

  測試的振蕩周期T = 102. 2 ns,則傳輸延遲時間tpd= T/ ( 2N ) = 102. 2/ 10= 10. 22 ns,結(jié)果與設(shè)定值基本一致。

圖1 電路輸出波形及振蕩周期測試

圖2  圖1 電路輸出波形及振蕩周期測試

  1. 2   測試方案2

  將奇數(shù)個門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路,用虛擬示波器測試其中一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間。

  以反相器74LS04N 作為仿真實驗器件,構(gòu)建仿真實驗電路如圖3 所示。

測試方案2 的仿真實驗電路

圖3   測試方案2 的仿真實驗電路

  仿真前,可對74LS04N 的上升延遲時間及下降延遲時間進行設(shè)置,如設(shè)置r ise delay= 10 ns,fall delay=10 ns。

  仿真時示波器顯示的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間測試如圖4 所示。

圖3 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試

圖4  圖3 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試

  測試的傳輸延遲時間tpd = 11. 1 ns,測量結(jié)果與設(shè)定值基本一致。

 

  1. 3   測試方案3

  在一個門的輸入端加入矩形脈沖信號,測試一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間。外加信號的周期T = 2N tpd ,以保證門的工作頻率和前述其他測試方法相同。

  以反相器74LS04N 作為仿真實驗器件,構(gòu)建仿真實驗電路如圖5 所示,信號發(fā)生器輸出矩形脈沖的頻率選為10 MHz。

測試方案3 的仿真實驗電路

圖5  測試方案3 的仿真實驗電路

  仿真前,可對74LS04N 的上升延遲時間及下降延遲時間進行設(shè)置,如設(shè)置rise delay= 10 ns,fall delay=10 ns。

  仿真時示波器顯示的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間測試如圖6 所示。

 圖5 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試

圖6  圖5 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試

  測試的傳輸延遲時間tpd = 11. 0 ns,測量結(jié)果與設(shè)定值基本一致。

  2   誤差分析

  上述三種測試方案的測試結(jié)果表明存在誤差,原因是組成測試電路時門的輸入端、輸出端接入測試儀器,使門的輸入端、輸出端存在負載效應(yīng),從而使延遲時間略大于設(shè)定值。

  在測試方案1 中,示波器接至一個門的輸出端,僅對門的輸出端產(chǎn)生影響;測試方案2、3 中,示波器接至一個門的輸入端、輸出端,對門的輸入端、輸出端均產(chǎn)生影響。所以測試方案1 測試的延遲時間小于測試方案2、3;測試方案2、3 測試的延遲時間基本相同。

  3   結(jié)  語

  Multisim 軟件仿真具有豐富的仿真分析能力,但也存在一些問題及不足,使用時必須認真分析思考軟件的設(shè)置條件,改進仿真實驗方法,才能達到預(yù)期的實驗效果。

  所述方法具有實際應(yīng)用意義,這些方法亦可用于其他功能邏輯門傳輸時間的仿真測試。


 

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