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惠瑞捷SoC測試平臺助力日月光IC封測
發表于：2011/9/23 0:00:00
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惠瑞捷V93000 Direct-Probe成功用于200多個生產案例
發表于：2011/7/15 14:49:38
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惠瑞捷獲自動測試設備供應商最佳客戶滿意度獎
發表于：2011/6/7 0:00:00
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惠瑞捷榮膺VLSI Research五星級客戶滿意度大獎
發表于：2010/1/5 0:00:00
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惠瑞捷為成本敏感型集成電路和微控制器推出零空間占用的低成本測試系統V101
發表于：2009/7/9 11:12:18
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惠瑞捷榮登VLSI Research客戶滿意度榜首
發表于：2009/6/4 11:31:57
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展訊公司選擇惠瑞捷V93000測試其移動數字電視器件
發表于：2009/3/18 15:10:03
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發表于：2009/3/18 15:10:03
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蘇州中科集成電路設計和工程測試中心采用惠瑞捷V93000為本地設計公司提供支持
發表于：2008/8/27 11:57:42
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展訊通信公司選擇Verigy Port Scale RF解決方案測試無線器件
發表于：2008/7/15 9:10:31
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NVIDIA擴大惠瑞捷 V93000 SOC測試平臺使用范圍
發表于：2008/7/7 11:42:15
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新科金朋購買多套惠瑞捷Port Scale RF解決方案授予惠瑞捷最佳供應商獎
發表于：2008/7/1 14:11:34
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惠瑞捷推出適用于V93000平臺的Inovys 硅片調試解決方案 縮短系統級芯片（SoC）制造者改善成品率的時間
發表于：2008/6/23 15:06:03
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賽凡選擇惠瑞捷V5000e進行下一代45nm非易失性存儲器設備調試和設計特性分析
發表于：2008/3/20 13:46:44
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Rambus選擇惠瑞捷V93000 HSM系列測試下一代超高速存儲芯片
發表于：2008/3/19 14:53:30
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ASE Test選擇惠瑞捷V93000 Port Scale RF進行復雜RF-SOC測試
發表于：2008/3/18 16:21:58
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惠瑞捷公布2008年第一財季財務報告
發表于：2008/3/18 14:35:40
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OKI選用惠瑞捷V93000 Port Scale射頻測試解決方案實現高性能，低測試成本以及快速量產上市
發表于：2007/11/29 14:12:07
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惠瑞捷V93000測試系統推出Port Scale 射頻測試解決方案
發表于：2007/8/31 10:10:05
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惠瑞捷納米電子數字信號測試解決方案可找出65納米及更小制程的故障模式以提高生產良率
發表于：2007/8/31 10:07:32
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惠瑞捷V93000測試系統推出消費類電子產品的混合信號測試解決方案
發表于：2007/8/31 10:01:16
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