| NIDays 2012再掀測試測量領域新浪潮 | |
| 所屬分類：其他 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>150 K | |
| 標簽： 前沿報道 | |
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| 文檔介紹：2012年11月16日， 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的一年一度的“NIDays全球圖形化系統設計盛會”中國站在北京萬達索菲特大飯店圓滿落幕。本屆NIDays吸引了近千名來自不同行業的工程師和二十多家行業媒體到會，通過精心挑選的技術講座、最新的產品與創新應用展示、精彩的互動交流等環節，向工程師們傳達了最新前沿技術信息以及NI在測試測量、控制和設計領域的應用革新。 | |
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