| 惡劣工作環(huán)境中的開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計考慮 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：ADI | |
| 文檔大小：856 K | |
| 標(biāo)簽： 接口IC | |
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| 文檔介紹：隨著精密電子器件的使用日益增加，系統(tǒng)也變得越來越復(fù)雜，而且更易受到電子干擾，其中包括過壓、閂鎖狀況和靜電放電(ESD)事件。這些應(yīng)用中采用的電子電路需要具有高可靠性和對系統(tǒng)故障的高耐受性，因此設(shè)計人員在選擇器件時必須考慮到環(huán)境因素和器件自身限制。 | |
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