| 一種安全可控的SoC可測(cè)性設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大小：211 K | |
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| 文檔介紹：提出了一種安全可控的可測(cè)性設(shè)計(jì)DFT（Design For Test）。DFT既能夠完成對(duì)SoC的測(cè)試，又能保障SoC自身敏感信息和關(guān)鍵技術(shù)的安全。 | |
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