| 3.ADI觸摸屏測試解決方案 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：603 K | |
| 標(biāo)簽： ADI | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：該方案探討了在大規(guī)模生產(chǎn)中如何測量觸摸屏電容值，以及如何在貼裝IC驅(qū)動芯片之前發(fā)現(xiàn)有缺陷的觸摸屏。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
wwei 的最新分享
- 智能背景下的雷達(dá)通信電子對抗一體化技術(shù)
- 基于NVRAM復(fù)合故障日志的機(jī)載雷達(dá)故障定位
- 基于聲波激勵天線圓形陣列空間連續(xù)采樣的地下目標(biāo)三維定位方法
- 大功率射頻放大電路過沖損傷的研究與設(shè)計(jì)
- 基于FPGA的音頻Sigma-Delta調(diào)制器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 一款雙頻段雙極化天線設(shè)計(jì)
- 用于多機(jī)協(xié)同平臺的高隔離度收發(fā)一體射頻裝置
- 基于物聯(lián)網(wǎng)邊云協(xié)同的電網(wǎng)靈活性資源聚合商博弈優(yōu)化調(diào)度方法
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號-2