| 測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建基礎(chǔ)知識(shí) | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：serena | |
| 文檔大?。?span>4748 K | |
| 標(biāo)簽： NI 測(cè)試測(cè)量 NI自動(dòng)化測(cè)試 | |
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| 文檔介紹：確定測(cè)試策略是降低成本以及最大限度地提高產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)組織效率的關(guān)鍵。 這些技術(shù)白皮書(shū)詳細(xì)介紹了從零開(kāi)始構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)的推薦步驟。 查看執(zhí)行測(cè)試維護(hù)、軟硬件抽象層、熱分析和開(kāi)關(guān)相關(guān)的最佳實(shí)踐，確保您掌握構(gòu)建智能測(cè)試系統(tǒng)所需的基礎(chǔ)知識(shí)，滿足當(dāng)前和未來(lái)的需求。 | |
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