| 基于二叉樹的時(shí)序電路測試序列設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 標(biāo)簽： 二叉樹 時(shí)序電路 測試序列 | |
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| 文檔介紹：為了實(shí)現(xiàn)時(shí)序電路狀態(tài)驗(yàn)證和故障檢測，需要事先設(shè)計(jì)一個(gè)輸入測試序列。基于二叉樹節(jié)點(diǎn)和樹枝的特性，建立時(shí)序電路狀態(tài)二叉樹，按照電路二叉樹節(jié)點(diǎn)(狀態(tài))與樹枝(輸入)的層次邏輯關(guān)系，可以直觀和便捷地設(shè)計(jì)出時(shí)序電路測試序列。用測試序列激勵(lì)待測電路，可以驗(yàn)證電路是否具有全部預(yù)定狀態(tài)，是否能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)定狀態(tài)轉(zhuǎn)換。 | |
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