《電子技術(shù)應(yīng)用》
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探索分布式仿真方法加速Chiplet系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證
電子技術(shù)應(yīng)用
徐加山1,何金鑫1,劉紅云1,徐志磊2
1.深圳市中興微電子技術(shù)有限公司;2.上海楷登電子科技有限公司
摘要: 隨著人工智能(AI)和高性能計(jì)算領(lǐng)域?qū)π酒懔π枨蟮脑鲩L,Chiplet方案正日益受到行業(yè)重視。然而Multi-Die系統(tǒng)復(fù)雜性和規(guī)模的擴(kuò)大導(dǎo)致仿真消耗服務(wù)器資源大、驗(yàn)證交付周期延長等。為解決這些問題,分析了傳統(tǒng)的三步法和Socket驗(yàn)證方法,重點(diǎn)探索了Cadence分布式仿真方案,基于某實(shí)際Chiplet項(xiàng)目將系統(tǒng)級(jí)仿真任務(wù)分解成多個(gè)子Die并行執(zhí)行的仿真實(shí)例,從服務(wù)器內(nèi)存、跨服務(wù)器通信延遲、同步時(shí)間精準(zhǔn)調(diào)控、信號(hào)連接開始時(shí)間及信號(hào)連接數(shù)量等多個(gè)方面探索了分布式仿真提效的措施,實(shí)現(xiàn)了超大規(guī)模Chiplet系統(tǒng)級(jí)RTL仿真和回歸效率提升。
中圖分類號(hào):TN407 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.250807
中文引用格式: 徐加山,何金鑫,劉紅云,等. 探索分布式仿真方法加速Chiplet系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2025,51(8):35-39.
英文引用格式: Xu Jiashan,He Jinxin,Liu Hongyun,et al. Research on accelerating chiplet system level verification with distributed simulation technology[J]. Application of Electronic Technique,2025,51(8):35-39.
Research on accelerating chiplet system level verification with distributed simulation technology
Xu Jiashan1,He Jinxin1,Liu Hongyun1,Xu Zhilei2
1.Sanechips Technology Co.,Ltd.;2.Cadence Design Systems,Inc.
Abstract: With the increasing demand for chip computing power in the fields of AI and high-performance computing, the chiplet solution is attracting more and more attention in the industry. However, the expansion of complexity and scale in multi-Die systems leads to issues such as high server resource consumption during simulation and extended verification delivery cycles. To solve these problems, this paper analyzes the traditional three-step method and socket verification method, and focuses on the Cadence distributed simulation solution. Based on an actual chiplet project, this paper breaks down system-level simulation tasks into multiple sub-Dies for parallel execution, and explores distributed simulation measures to improve efficiency from multiple aspects, such as server memory, cross-server communication delay, precise synchronization time adjustment, signal connection start time, and signal connection quantity. This achieves ultra-large-scale chiplet system-level RTL simulation and improves regression efficiency.
Key words : chiplet;system level validation;distributed simulation technology

引言

隨著高性能計(jì)算、人工智能及自動(dòng)駕駛等帶寬密集型應(yīng)用的快速發(fā)展,傳統(tǒng)大的單芯片面臨良率風(fēng)險(xiǎn),推動(dòng)著系統(tǒng)架構(gòu)正從傳統(tǒng)單芯片向多芯片集成方向演進(jìn),但這也導(dǎo)致系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證難度顯著增加。現(xiàn)有驗(yàn)證方法在應(yīng)對Chiplet系統(tǒng)級(jí)仿真時(shí)存在運(yùn)行效率低下、驗(yàn)證交付周期長等問題。因此,本文探索了基于分布式仿真的驗(yàn)證方案,通過構(gòu)建并行化仿真任務(wù)調(diào)度機(jī)制和資源分配策略,實(shí)現(xiàn)多芯片協(xié)同驗(yàn)證的效率提升。


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作者信息:

徐加山1,何金鑫1,劉紅云1,徐志磊2

(1.深圳市中興微電子技術(shù)有限公司,江蘇 南京 210012;2.上海楷登電子科技有限公司,上海 200235)


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