0　引言

    陣列渦流檢測(cè)技術(shù)作為一種新型的無損檢測(cè)技術(shù)，不但具有常規(guī)渦流檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，還克服了常規(guī)渦流傳感器檢測(cè)速度慢的缺點(diǎn)。隨著計(jì)算機(jī)、傳感器技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)的進(jìn)步，陣列渦流檢測(cè)技術(shù)已趨于成熟^[1-2]。陣列渦流技術(shù)的檢測(cè)原理是將通入交變電流的激勵(lì)線圈放置在導(dǎo)電部件上，導(dǎo)體表面會(huì)產(chǎn)生渦流，導(dǎo)體中的缺陷會(huì)干擾渦流路徑，這種干擾可以通過檢測(cè)線圈來測(cè)量^[3]。陣列渦流傳感器探頭結(jié)構(gòu)靈活多變，能適應(yīng)復(fù)雜工況，針對(duì)某些特殊結(jié)構(gòu)工件的缺陷檢測(cè)有著獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，陣列探頭的不同布置方案會(huì)對(duì)輸出信號(hào)產(chǎn)生影響，陣列探頭會(huì)有多個(gè)線圈，通過分時(shí)復(fù)用芯片進(jìn)行通道采集^[4-6]。陣列渦流檢測(cè)的一個(gè)重要應(yīng)用是磁感應(yīng)成像，磁感應(yīng)成像的原理是利用高頻磁場(chǎng)在不接觸被測(cè)組織的情況下測(cè)量組織的電導(dǎo)率，從而重構(gòu)組織內(nèi)部電導(dǎo)率的分布情況以及檢測(cè)電導(dǎo)率的變化情況^[7-8]。陣列探頭的信號(hào)可以利用可編程門陣列（FPGA）進(jìn)行多路信號(hào)的采集和控制^[9]。Zynq-7020包含一片F(xiàn)PGA和雙核ARM Cortex-A9處理器，利用ZYNQ可以方便擴(kuò)展系統(tǒng)的功能^[10]。

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作者信息：

蔣青松，張志杰

（中北大學(xué) 儀器科學(xué)與動(dòng)態(tài)測(cè)試教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，山西 太原 030051）