《電子技術應用》
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一種進位鏈TDC的實現及其抽頭方式研究
2022年電子技術應用第4期
李海濤1,李斌康1,2,田 耕1,2,阮林波1,2,呂宗璟1
1.西北核技術研究所,陜西 西安710024;2.強脈沖輻射環境模擬與效應國家重點實驗室,陜西 西安710024
摘要: 采用Xilinx公司的Kintex-7內部的進位鏈,實現了時間數字轉換器(Time to Digital Converter,TDC)。采用碼密度校準方法對TDC進行逐位校準,標定了TDC的碼寬。碼密度校準過程中發現,不同的進位鏈抽頭位置會導致TDC的碼寬不同、非線性不同,研究了2抽頭、4抽頭方式下的TDC的碼寬和非線性,在“0tap+3tap”的2抽頭方式下,TDC可以獲得較好的線性,時間分辨率為25 ps(對應最低有效位(Least Significant Bit,LSB)),微分非線性范圍為-0.84~3.1 LSB,積分非線性范圍為-5.2~2.2 LSB。
中圖分類號: TN79
文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.212120
中文引用格式: 李海濤,李斌康,田耕,等. 一種進位鏈TDC的實現及其抽頭方式研究[J].電子技術應用,2022,48(4):53-56,61.
英文引用格式: Li Haitao,Li Binkang,Tian Geng,et al. Research of a carry chain TDC and its tap method[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(4):53-56,61.
Research of a carry chain TDC and its tap method
Li Haitao1,Li Binkang1,2,Tian Geng1,2,Ruan Linbo1,2,Lv Zongjing1
1.Northwest Institute of Nuclear Technology,Xi′an 710024,China; 2.State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect,Xi′an 710024,China
Abstract: A time to digital converter(TDC) is implemented using carry chains in Xilinx Kinex-7 FPGA. FPGA-TDC is calibrated bin-by-bin through the code density calibration method. In the calibration process, it is found that different carry chain tap modes will lead to different code widths and nonlinearity of TDC. The code widths and nonlinearity of TDC in 2-tap and 4-tap modes are studied. In the "0tap + 3tap" 2-tap mode, the FPGA-TDC can obtain the optimal nonlinearity with a time resolution of 25 ps(corresponding to least significant bit(LSB)), differential nonlinearity(DNL) ranges -0.84~3.1 LSB, integral nonlinearity(INL) ranges -5.2~2.2 LSB.
Key words : carry chain;time to digital converter;code density calibration;tap method;thermometer code

0 引言

    時間是物理學的7個基本物理量之一[1],在物理學發展中起到重要作用,精確地獲取研究對象的時間信息具有重要意義。對時間信息的獲取可以由時間數字轉換器(Time to Digital Converter,TDC)來實現,TDC將時間信息轉換為二進制數字編碼,輸出到后端分析,得到具體時間信息。TDC廣泛應用在高能物理、衛星授時、導航定位、數字通信、醫學成像等領域[2-5]。

    TDC有多種實現方法,包括直接計數法、時間間隔擴展法、時間幅度轉換法、多相位時鐘法、游標法、抽頭延遲鏈法、差分延遲鏈法等,各種方法既可以獨立使用,又可以配合使用,實現從低精度到高精度、從細時間到粗時間的時間測量。從技術上劃分,TDC的實現可以分為模擬方法和數字方法;從平臺上劃分,TDC可以在專用集成電路平臺(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、FPGA等平臺上實現。ASIC-TDC的測量精度、穩定性較高,一般都是針對某一特定場景應用設計,不具有通用性和可擴展能力,并且開發ASIC芯片的周期很長;FPGA-TDC具有開發周期短、成本低、設計靈活等優點,但是精度和穩定性較差。隨著半導體制造工藝的進步,FPGA-TDC的測量精度和穩定性等同步提高,實現高精度FPGA-TDC具有重要研究意義。

    目前,實現高精度FPGA-TDC的研究主要集中在幾個方面[2,6-9]:(1)FPGA-TDC的實現,使用FPGA內部資源實現高精度TDC,把時間信息轉換成二進制數字編碼;(2)TDC碼寬的自動校準,選擇合適的校準方法,校準TDC碼寬,降低FPGA制造工藝、工作電壓、工作溫度(Process、Voltage、Temperature,PVT)等對TDC的影響;(3)針對TDC碼寬的不一致性,如何降低測量誤差,進一步提高測試精度;(4)動態監測并實時校準TDC碼寬,針對特殊要求(如航天等)進行冗余設計等。對FPGA-TDC的研究主要集中在前述的第1、第3方面,在不同FPGA平臺上實現進位鏈TDC。受限于進位鏈的線性度,TDC的線性較差,導致時間測量精度下降。通過多鏈單次測量求平均[1,8,10]或者單鏈多次測量求平均[11-12]的方法,可以提高TDC的線性和時間測量精度。對TDC的碼寬的動態監測、冗余設計等,一般應用在航空航天等特殊領域[2]。對于單鏈TDC的碼寬校準和抽頭方式方面(前述第2方面),缺少較為深入的研究。




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作者信息:

李海濤1,李斌康1,2,田  耕1,2,阮林波1,2,呂宗璟1

(1.西北核技術研究所,陜西 西安710024;2.強脈沖輻射環境模擬與效應國家重點實驗室,陜西 西安710024)




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