羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz）的新型R&S RTS雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)能夠模擬駕駛場(chǎng)景，應(yīng)用于無(wú)線自動(dòng)駕駛汽車（AD）中使用的雷達(dá)。測(cè)試解決方案包括后端的新型R&S AREG800A汽車?yán)走_(dá)回波產(chǎn)生器和前端的R&S QAT100天線陣列。橫向移動(dòng)的物體，即從側(cè)面接近的物體，目前一般通過(guò)機(jī)械移動(dòng)天線來(lái)模擬。
R&S車用雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)解決方案
而R&S RTS取代了機(jī)械運(yùn)動(dòng)，透過(guò)電子開(kāi)關(guān)前端的單個(gè)天線完成模擬。即使是物體以非常高的速度橫向移動(dòng)到汽車上，也可以保證模擬的可靠性和可再現(xiàn)性。R&S雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)能夠在使用者可配置的范圍內(nèi)（包括非常小的范圍）模擬物體的徑向速度（多普勒頻移）和尺寸（雷達(dá)截面）。複數(shù)的物件可以通過(guò)串列多個(gè)R&S AREG800A后端來(lái)表示。R&S RTS將目前在路上進(jìn)行的測(cè)試轉(zhuǎn)移到實(shí)驗(yàn)室。從而實(shí)現(xiàn)早期錯(cuò)誤檢測(cè)和并顯著降低成本。
R&S QAT100天線陣列前端
雷達(dá)感測(cè)器是自動(dòng)駕駛的關(guān)鍵零組件。車輛中雷達(dá)感測(cè)器的數(shù)量越來(lái)越多，因?yàn)槌薔CAP（新車評(píng)估計(jì)畫）要求的遠(yuǎn)距雷達(dá)之外，還要安裝更多的雷達(dá)角反射器，這些雷達(dá)角反射器可以監(jiān)控橫向移動(dòng)的物體。最新一代的雷達(dá)感測(cè)器配備了整合射頻天線和信號(hào)處理器，用于在同一晶片上進(jìn)行物體識(shí)別，因此雷達(dá)感測(cè)器測(cè)試中需要在空中模擬待識(shí)別的物體。R&S RTS是一個(gè)目標(biāo)模擬器，由R&S AREG800A后端和R&S QAT100天線陣列前端組成，能夠產(chǎn)生動(dòng)態(tài)雷達(dá)回波，用于汽車?yán)走_(dá)感測(cè)器測(cè)試的各個(gè)階段，包括預(yù)開(kāi)發(fā)、硬體迴路實(shí)驗(yàn)室測(cè)試（Hardware in-the-loop）和整合在車輛中的ADAS/AD功能驗(yàn)證。
后端可以模擬大量獨(dú)立的人造物體，并動(dòng)態(tài)改變它們的范圍、大小（雷達(dá)截面）和徑向速度。暫態(tài)頻寬為4GHz，頻率介于76~81GHz之間，涵蓋了當(dāng)前和未來(lái)汽車?yán)走_(dá)感測(cè)器的典型頻率范圍。前端使用多達(dá)192個(gè)獨(dú)立可切換天線來(lái)模擬相對(duì)汽車運(yùn)動(dòng)方向橫向移動(dòng)的物體，提供非常精細(xì)的解析度、高切換速度和高重複性。天線的電子切換不會(huì)對(duì)射頻纜線和其他移動(dòng)元件造成任何磨損，而傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)中使用的機(jī)械天線運(yùn)動(dòng)則無(wú)法避免這種情況。可選的發(fā)射陣列可以模擬兩個(gè)靠得很近的物體向汽車橫向移動(dòng)。小貼片天線和吸波材襯裡的表面提供了一個(gè)低反射的射頻前端，雷達(dá)截面非常小。這降低了感測(cè)器的雜訊，抑制了近距離目標(biāo)和潛在的多徑反射。僅3.7毫米的天線間距提供了非常精細(xì)的角度解析度。多個(gè)前端可以組合在一起，以覆蓋雷達(dá)感測(cè)器的更大視野。能夠?qū)崿F(xiàn)小于0.5°的角度解析度。
車用雷達(dá)未來(lái)將廣泛搭載于市售汽機(jī)車
R&S RTS系統(tǒng)由于其模組化和可擴(kuò)展性，能夠從自動(dòng)緊急剎車（AEB）等簡(jiǎn)單場(chǎng)景開(kāi)始，一直擴(kuò)展到包含多個(gè)雷達(dá)感測(cè)器的非常複雜的場(chǎng)景。使用者可以組合任意數(shù)量的R&S QAT100前端和R&S AREG800A后端。其中一個(gè)后端會(huì)對(duì)安裝的所有元件進(jìn)行同步程式安裝。帶有觸控式螢?zāi)坏膱D形化使用者介面使測(cè)試設(shè)置變得更加簡(jiǎn)單。針對(duì)使用工業(yè)標(biāo)淮工具的測(cè)試自動(dòng)化要求，R&S RTS配備了符合ASAM開(kāi)放模擬介面規(guī)范的硬體迴路（HiL）介面。
憑藉數(shù)十年的電磁相容測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，Rohde & Schwarz為客戶提供測(cè)試和測(cè)量設(shè)備以及可定制的交鑰匙測(cè)試系統(tǒng)，根據(jù)所有主要的CISPR和OEM的特定電磁相容標(biāo)淮對(duì)車輛和部件進(jìn)行電磁干擾和電磁相容測(cè)量，使用自家的系統(tǒng)和儀器支援全車天線測(cè)試和無(wú)線共存測(cè)試。而電子控制單元（ECU）生產(chǎn)過(guò)程中的電路板級(jí)別測(cè)試（ICT/FCT/BS）提供效能更好的解決方案。
