2021年1月7日 – 專注于引入新品并提供海量庫存的電子元器件分銷商貿(mào)澤電子 (Mouser Electronics) 宣布將攜手ADI于1月12日下午14:00-15:30舉辦一期主題為“ADI助力半導體測試設備成長”的在線研討會。屆時，來自ADI 的技術(shù)專家將與觀眾探討分享特定于ATE 應用的豐富產(chǎn)品線以及相應的參考設計方案，讓工程師們能夠更好的了解半導體自動測試設備，進一步提升測試實用技能。

半導體測試是半導體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其中，測試機是檢測芯片功能和性能的專用設備，需要具有高度集成、高效率和高精度等特點。對于需要高性能、高可靠、高性價比解決方案的 IC 測試應用，ADI 提供了整體的解決方案。本次直播將重點為觀眾介紹集成式引腳電子器件 (PE)、器件電源 (DPS)、參數(shù)測量單元 (PMU)、參考設計方案，幫助工程師能夠更好地掌握測試環(huán)節(jié)中的重要因素，實現(xiàn)更為便捷和高效的測試。

貿(mào)澤電子亞太區(qū)市場及商務拓展副總裁田吉平女士表示：“隨著芯片性能的提升，芯片的設計也越來越復雜，為了保障產(chǎn)品品質(zhì)，出貨前的半導體測試已然成為非常重要的部分。對于測試工程師來說，利用良好的測試系統(tǒng)可以獲得較好的測試覆蓋率，而測試系統(tǒng)硬件和軟件的性能不僅影響測試方法，更造成測試的精確度、靈活度及難易度等方面的差別。為了讓工程師在測試應用中，能在特定的情況下找到最佳解決方案，貿(mào)澤電子特邀ADI專家分享相關課程，深入探討和剖析IC測試過程中所用到的器件，結(jié)合ADI的全面解決方案，助力工程師輕松應對測試中的各類挑戰(zhàn)，提高測試質(zhì)量。”