近日，全球領(lǐng)先的測試測量廠商NI（National Instruments）宣布與上海孤波科技有限公司（簡稱孤波）、上海韋爾半導體股份有限公司（簡稱韋爾半導體）達成合作。孤波借助NI開放的LabVIEW平臺和模塊化的PXI硬件，開發(fā)出滿足韋爾半導體射頻芯片產(chǎn)品的測試方案，幫助韋爾半導體建立從實驗室驗證到量產(chǎn)的標準化測試流程，加速產(chǎn)品上市時間。

　　2020年新基建的提出，加速了各領(lǐng)域的智能化升級，受應用端的驅(qū)動，芯片行業(yè)迎來了新的發(fā)展期。在此背景下，NI、孤波和韋爾半導體三方的合作對于推動半導體行業(yè)創(chuàng)新具有重要意義。韋爾半導體作為專注于半導體器件的設(shè)計和銷售公司，面臨著將產(chǎn)品迭代速度快，上市時間縮短的挑戰(zhàn)。未來，三方將共同探索，攜手打造高效的芯片測試模式，致力于優(yōu)化測試流程、縮短測試時間、降低測試成本。

　　作為致力于開發(fā)標準的半導體自動化驗證、測試軟件平臺的創(chuàng)新者，孤波將與NI共同推進測試測量標準化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺SIVA，結(jié)合NI的PXI和客戶自有的第三方臺式儀表，為客戶打造跨產(chǎn)品線，跨office，甚至跨BU的測試統(tǒng)一服務(wù)，統(tǒng)一測試標準，從而提高測試效率，加速客戶的產(chǎn)品開發(fā)和量產(chǎn)進程。”

　　上海韋爾半導體股份有限公司副總裁紀剛指出：“在NI的開放的PXI架構(gòu)和孤波易用的SIVA軟件的幫助下，韋爾半導體實現(xiàn)了多條產(chǎn)品線從實驗室驗證到量產(chǎn)的測試標準化和平臺復用，極大地降低了測試成本，提升了測試效率，從而幫助我們加快產(chǎn)品的迭代速度，更好地應對快速的市場變化。”

　　芯片越來越復雜，而芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的周期卻越來越短，如何實現(xiàn)從實驗室到量產(chǎn)整個環(huán)節(jié)的全面與快速驗證，是工程師們面臨的一個重大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的測試方法無法應對現(xiàn)在的挑戰(zhàn)，為滿足日益復雜的測試需求，有效控制成本和測試時間，工程師需要現(xiàn)代化芯片測試（Modern Lab)方法，即基于標準化、高效的芯片實驗室運營流程方法。

　　NI 亞太區(qū)銷售總監(jiān)陳健忠強調(diào)：“Modern Lab的概念由NI首次提出，NI致力于將Modern Lab的理念帶入中國，幫助中國客戶建立這套標準化的測試流程，在芯片測試過程中建立標準和可遷移的架構(gòu)，幫助廠商實現(xiàn)在不同地區(qū)標準測試臺的部署和協(xié)同運營，同時為未來新技術(shù)的研發(fā)提供充分的靈活性。”

　　測試貫穿于芯片產(chǎn)業(yè)鏈的每個環(huán)節(jié)，隨著芯片產(chǎn)品多樣性和復雜性的增長，基于現(xiàn)代化的測試方法打造測試系統(tǒng)非常必要。NI和孤波將發(fā)揮各自獨特的優(yōu)勢，幫助韋爾半導體占領(lǐng)市場先機。