新聞發(fā)布– 2017年6月5日– NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰(zhàn)的供應商，今日宣布將在夏威夷檀香山舉行的2017國際微波會議(IMS)上展示一項準5G波形發(fā)生和測量技術。 該展示將包含代表Verizon 5G技術論壇(5GTF)和3GPP提出的新無線電(New Radio, NR)物理層波形的信號生成和分析。

這一技術展示將使用1 GHz帶寬的PXIe-5840第二代矢量信號收發(fā)儀(VST)與用于波形調(diào)制和解調(diào)的準5G軟件。波形調(diào)制的關鍵特征包括支持離散傅里葉變換擴展正交頻分復用(DFT-S-OFDM)和正交頻分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF規(guī)范的靈活子載波間隔和分量載波配置，總帶寬為1 GHz。該演示支持高達256-QAM的調(diào)制類型，測量結果包含功率、相鄰信道功率和誤差矢量幅度。 該演示的典型應用包括RF功率放大器、前端模塊和收發(fā)器等RFIC的測試。

NI無線設計和測試副總裁Charles Schroeder：“NI以軟件為中心的測試測量方法可允許PXI測試系統(tǒng)隨著軟件的更新速度進行更新。 借助這種方法，工程師可以使用當前用于測試LTE-A和LTE-A Pro產(chǎn)品的VST測試系統(tǒng)來測試未來的5G產(chǎn)品。”

NI的新5G測試技術與其廣泛的RF和無線測試產(chǎn)品系列相得益彰，新的軟件進一步完善了現(xiàn)有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、藍牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS測試解決方案。 NI的RF和無線智能測試系統(tǒng)基于NI先進的VST技術，可幫助工程師降低測試成本。 這些測試系統(tǒng)將受益于從直流到毫米波等不同工作頻率范圍的600多個PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)移動，同時具有亞納秒級同步以及集成的定時和觸發(fā)。 LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個由合作伙伴、附加IP和應用工程師組成的充滿活力的生態(tài)系統(tǒng)，可幫助用戶大幅降低測試成本，縮短上市時間，開發(fā)面向未來的測試設備來應對未來的種種挑戰(zhàn)。

如需了解更多關于VST的信息，請訪問www.ni.com/vst/。