兩家公司幫助客戶達成并超越產(chǎn)品上市時間目標

　　新聞要點：

　　緊密協(xié)作，結合超過百年的晶圓上測試經(jīng)驗，帶來器件表征和晶圓上測試的不斷創(chuàng)新

　　創(chuàng)新有助于加速客戶的產(chǎn)品上市

　　2016 年 6 月7 日，北京――是德科技公司（NYSE：KEYS）和 Cascade Microtech 公司（NASDAQ：CSCD）近日共同慶祝 25 年精誠合作，幫助客戶應對最棘手的半導體研發(fā)挑戰(zhàn)的歷史。這一合作帶來了重大的晶圓上設計和測試創(chuàng)新，幫助客戶加速產(chǎn)品上市。

　　是德科技源自 1939 年由 Bill Hewlett 和 Dave Packard 創(chuàng)立的原惠普公司。Cascade Microtech 公司由 Eric Strid 和 Reed Gleason 于 1983 年創(chuàng)立。1990 年，兩家公司開始聯(lián)手打造產(chǎn)品路線圖，實現(xiàn)了重大技術突破。憑借 100 多年的半導體測試經(jīng)驗，兩家公司的聯(lián)合創(chuàng)新也影響到了客戶進行晶圓上研究和設計的方式。

　　Cascade Microtech 公司總裁兼首席執(zhí)行官 Michael Burger 表示，“我們與是德科技長達數(shù)十年的合作，使得我們在解決客戶難題方面具有獨特的優(yōu)勢。通過在開發(fā)周期的早期合作，我們能夠為客戶提供真正創(chuàng)新的測試解決方案，提高測量精度，交付值得信賴的結果。”

　　Keysight-Cascade Microtech 客戶解決方案具有以下特點：

　　1991：HP/Keysight 4155 半導體參數(shù)分析儀幫助客戶進行低噪聲和漏電流測量。客戶反饋表明，需要將這些測量擴展到探針和晶圓基板。這促使 Cascade Microtech 公司開發(fā)了 MicroChamber? 技術和防護卡盤，以便在探頭和卡盤端子上進行 10 fA 以下的電流測量。客戶由此第一次能夠看到晶體管的真實漏電流。

　　1999：8510XF 網(wǎng)絡分析儀系統(tǒng)支持首款寬帶 110 GHz 同軸解決方案，為客戶提供最佳的整體性能，充分滿足毫米波應用中的設計和測試挑戰(zhàn)。同軸寬帶解決方案的引入，可以用一個寬帶單次掃描解決方案完成器件測量任務，而過去同樣的任務需要使用三套儀器和探頭，還需要進行校準。新的解決方案不僅節(jié)省了客戶的時間和金錢，同時還提供更全面、更準確的測量，測量范圍延伸至探針。

　　2015：完整的晶圓級測量解決方案用于快速、準確的半導體晶圓上測量，通過有保障的系統(tǒng)配置、安裝和支持，能節(jié)省測量時間，降低客戶風險。客戶得到保證――不會漏掉任何元器件。這個系統(tǒng)事先經(jīng)過驗證，能提供可靠的探針性能，確保更快獲得第一手數(shù)據(jù)。

　　是德科技副總裁兼總經(jīng)理 Gregg Peters表示，“在過去的 25 年中，客戶能成功進行器件表征和晶圓上測量，我們兩家公司團隊合作的作用不可或缺。今天，我們既要慶祝過去的成功，也期待著在未來 25 年繼續(xù)合作，幫助我們的客戶更快將產(chǎn)品推向市場。”