新聞發(fā)布 - 2016年3月15日- NI (美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日亮相2016 Semicon中國(guó)半導(dǎo)體展，并宣布推出TestStand半導(dǎo)體模塊，為測(cè)試系統(tǒng)工程師提供了所需的軟件工具來(lái)快速開發(fā)、部署和維護(hù)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。

　　借助TestStand半導(dǎo)體模塊，工程師可以采用與在生產(chǎn)車間部署半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS) 一樣的編程方法在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行特性分析，從而減少了關(guān)聯(lián)測(cè)量數(shù)據(jù)所需的時(shí)間。 TestStand半導(dǎo)體模塊基于 TestStand這一已經(jīng)被全球超過(guò)1萬(wàn)名開發(fā)工程師所采用的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試管理軟件，可幫助用戶使用PXI和TestStand的功能自行搭建半導(dǎo)體測(cè)試所需的機(jī)架式系統(tǒng)，而不需要采用STS傳統(tǒng)的“測(cè)試頭”架構(gòu)。

　　“NI致力于通過(guò)開放式軟件和模塊化硬件不斷降低半導(dǎo)體測(cè)試的成本，” NI半導(dǎo)體測(cè)試副總裁Ron Wolfe表示， “我們?cè)?014年推出STS，使得業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的開放式PXI平臺(tái)具有了專門針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試的功能。今天，我們專門針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試的特性分析以及生產(chǎn)等各個(gè)階段的需求開發(fā)了TestStand半導(dǎo)體模塊，提高了測(cè)試開發(fā)的效率。”

　　TestStand半導(dǎo)體模塊提供了專門針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試的功能，可降低開發(fā)成本和提高生產(chǎn)吞吐量。 功能包括：

　　          動(dòng)態(tài)多站點(diǎn)編程，可將代碼復(fù)用于多個(gè)站點(diǎn)上（數(shù)量可調(diào)）

　　          直觀的引腳圖編輯器，包括PXI和第三方儀器

　　          標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)格式(STDF)結(jié)果處理器，使用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的格式記錄參數(shù)測(cè)試結(jié)果

　　TestStand半導(dǎo)體模塊進(jìn)一步補(bǔ)充了NI日益壯大的半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品家族，半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品已經(jīng)包含了STS、數(shù)百個(gè)高性能PXI儀器以及TestStand和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件等各種功能強(qiáng)大的軟件。 NI智能化的平臺(tái)方法正在幫助半導(dǎo)體制造商降低RF和混合信號(hào)的測(cè)試成本，提高測(cè)試的吞吐量。

　　除了以上新品， NI 在2016 Semicon還展示了包括基于NI平臺(tái)的藍(lán)牙自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)、NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)、第三代PXI控制器/機(jī)箱和最新電源模塊、高速串行協(xié)議測(cè)試、ADC自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)等演示系統(tǒng)，歡迎大家光臨美國(guó)國(guó)家儀器位于上海新國(guó)際博覽中心N5的5443號(hào)展位。