《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種用于高速高精度ADC的電壓基準(zhǔn)源設(shè)計
馮朝坤 馮維元 顧川 許巧麗
摘要: 本文對電壓基準(zhǔn)源引起的ADC系統(tǒng)的DNL誤差進(jìn)行了建模分析,提出了一種采用二階曲率補償技術(shù)的電壓基準(zhǔn)源電路,該電路運用低噪聲兩級運放進(jìn)行箝位,同時在采用共源共柵電流鏡技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了PSR提高電路。通過在基于TSMC 1.8 V 0.18 μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝條件下的仿真結(jié)果表明,該電路的溫度系數(shù)為2.13 ppm/℃,電源抑制比在低頻條件下可達(dá)到-101 dB,可以滿足12位100 Msps ADC的系統(tǒng)要求。
Abstract:
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0  引言

隨著集成電路規(guī)模不斷擴大,尤其是芯片系統(tǒng)集成技術(shù)的提出,對模擬集成電路基本模塊(如A/D、D/A轉(zhuǎn)換器、濾波器以及鎖相環(huán)等電路)提出了更高的精度和速度要求,這也就意味著系統(tǒng)對其中的基準(zhǔn)源模塊提出了更高的要求。

用于高速高精度ADC的片內(nèi)電壓基準(zhǔn)源不僅要滿足ADC精度和采樣速率的要求,并應(yīng)具有較低的溫度系數(shù)和較高的電源抑制比,此外,隨著低功耗和便攜的要求,ADC也在朝著低壓方向發(fā)展,相應(yīng)的基準(zhǔn)源也要滿足低電源電壓的要求。

本文分析了基準(zhǔn)源對流水線ADC精度的影響,并建立了相應(yīng)的模型,確定了高速高精度ADC對電壓基準(zhǔn)源的性能要求。給出了基于1.8 V的低電源電壓,并采用結(jié)構(gòu)簡單的VBE非線性二階補償帶隙基準(zhǔn)源的核心電路,該補償方式可以實現(xiàn)較低的溫度系數(shù),能滿足高速高精度ADC的要求。箝位運放采用一種低噪聲兩級運算放大器,該運放可提供小于0.02 mV的失調(diào)電壓,因而保證了基準(zhǔn)源的補償精度。為了提高基準(zhǔn)源的電源抑制比,本文除采用常用的共源共柵電流鏡技術(shù)以外,還設(shè)計了一種簡單有效的電源抑制比提高電路,從而使得基準(zhǔn)源的電源抑制比有了較大提高。

1  電壓基準(zhǔn)源影響的建模分析

在Pipelined ADC系統(tǒng)中,基準(zhǔn)源的主要作用是為子ADC提供比較電平,同時為MDAC提供殘差電壓。差分基準(zhǔn)電壓源發(fā)生偏移會導(dǎo)致子ADC比較電平和MDAC殘差電壓發(fā)生變化。而通過引入冗余位矯正技術(shù)可大大減小差分基準(zhǔn)電壓源所引起的比較電平變化對系統(tǒng)指標(biāo)造成的影響,但是,MDAC殘差電壓變化的影響卻無法消除,系統(tǒng)的轉(zhuǎn)移特性曲線仍將會發(fā)生變化,從而造成系統(tǒng)指標(biāo)下降。其中基準(zhǔn)電壓源的偏移主要來源于溫度和電源電壓的影響。

下面分析基準(zhǔn)電壓源溫度漂移特性對DNL的影響。一般情況下,實際相鄰輸出與理想相鄰輸出之間的偏差可以表示為:

對于首級精度為3.5位的12位ADC,在-40℃~85℃的溫度范圍內(nèi),對溫度要求最嚴(yán)格的比較器一般要求基準(zhǔn)電壓源的最大溫漂不超過(7/8)Vdiff。

根據(jù)下列兩式:

可以得到DNL對基準(zhǔn)電壓源溫度系數(shù)的要求,即溫度系數(shù)TC≤6.84 ppm/℃。式中,VT0為室溫25℃時的基準(zhǔn)電壓值。

2電壓基準(zhǔn)源電路結(jié)構(gòu)設(shè)計

2.1  二階曲率補償技術(shù)

由前文分析可知,12位ADC系統(tǒng)要求溫度系數(shù)應(yīng)小于6.84ppm/K才能達(dá)到12位精度。傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)源很難達(dá)到這個要求,因此,本文選用一種如圖1所示的二階曲率補償?shù)碾妷夯鶞?zhǔn)源結(jié)構(gòu)。

如圖1所示,根據(jù)VBE的溫度關(guān)系式:

從(5)式可以看出,VBE與溫度并不是簡單的線性關(guān)系,最后一項就是非線性項。其中η是與工藝相關(guān)的量。如果發(fā)射極電流是PTAT電流,那么α=1;如果發(fā)射極電流與溫度無關(guān),則α=0。圖1中流入Q1、Q2的電流是PTAT電流,故有:

因流入Q3的電流也與溫度無關(guān),故有:

由于流過R4和R5的電流INL正比與VNL,故可表示為:

設(shè)M1、M2、M3和M4管的寬長比一樣,所以,流過四個管子的電流相等且都等于:

從式(10)可以看出,式子的第三項用來消除VEB1的非線性,這樣,結(jié)合(6)式可得:

這樣,由(10)式可以得到輸出的基準(zhǔn)電壓源為:

2.2  低噪聲箝位運放的設(shè)計

在基準(zhǔn)源中,箝位運放的主要作用是通過電流負(fù)反饋使與輸入端連接的結(jié)點的電壓強制相等,并且與電源電壓無關(guān)。可用運放的輸出對電流源進(jìn)行適當(dāng)?shù)钠茫蛊淞鬟^的電流與輸入電壓無關(guān),從而使R的電流為PTAT電流。實際的運放通常會存在失調(diào)電壓、有限增益以及運放噪聲,這些都會對基準(zhǔn)電壓源的性能造成影響,由于基準(zhǔn)電壓源一般工作在低頻條件下,因此,對運放的頻率特性要求不高。

本文在設(shè)計低噪聲箝位運放的過程中,重點考慮了以下幾個因素:

(1)由于運放的兩個輸入端基本為固定電位,不需要考慮動態(tài)范圍,因此,運放的設(shè)計不考慮共模輸入范圍;為了保證電路適用于低電源電壓場合,cascode結(jié)構(gòu)不再適合,因此,本文選用普通兩級運放的設(shè)計方式;

(2)選用PMOS作為運放的輸入級。因為PMOS的載流子與空穴的遷移率比NMOS的電子遷移率低2~5倍,故可以較大的減小1/f噪聲。同時由于1/噪聲與MOS管的面積成反比,因此,輸入管的面積需要做的很大;

(3)為了使1/f噪聲最小化,負(fù)載晶體管的柵長應(yīng)該比輸入管的柵長更長;

(4)減小箝位運放的帶寬可以有效的減小熱噪聲的影響。

經(jīng)過仿真可以得到如圖2所示的低噪聲箝位運放的頻率特性曲線,該曲線表明箝位運放的開環(huán)增益為81dB,單位增益帶寬為139 MHz,相位裕度為61°,失調(diào)電壓為0.02 mV,可見該運放能夠滿足系統(tǒng)要求。

2.3  提高電源抑制比的電路設(shè)計

帶隙基準(zhǔn)電路的電源電壓抑制比可以表示為:PSRR=∣(1-Add)/AV∣,其中AV為運放的開環(huán)增益,Add為運放的輸出與電源電Ndd之比。因此,為了提高PSRR,可以采取三種措施:一是增加運放的開環(huán)增益Av;二是改進(jìn)電路結(jié)構(gòu)使運放的Add趨近1;三是引入預(yù)校正技術(shù),即通過一個反饋電路將電源電壓穩(wěn)定在Vreg,并由Vreg為基準(zhǔn)電路供電,以有效提高PSRR。

本文的電路結(jié)構(gòu)除采用共源共柵電流鏡技術(shù)外,所加入的電源抑制比提高電路還可使運放的Add趨近1,從而大大提高基準(zhǔn)源的電源抑制比。

電源抑制比提高電路的具體結(jié)構(gòu)如圖3所示,它主要由M15,M16構(gòu)成。作為M16負(fù)載的M為二極管接法,具有低輸出阻抗,可在提高環(huán)路增益的同時,把電源紋波引入到環(huán)路中。由于以PMOS作為輸入管的兩級密勒補償運放的PSR約為0,因此,Vg的PSR主要由PSR提高電路決定,具體表示為:

從上式可知,VG跟隨Vdd變化,使M23,M24的柵源電壓保持恒定,從而提高基準(zhǔn)電壓的PSR。

3  電路仿真

3.1  溫度系數(shù)的仿真

通過Hspice仿真軟件可對上述基準(zhǔn)源的整體電路進(jìn)行溫度系數(shù)仿真,圖4所示是其溫度系數(shù)仿真曲線,由圖可以看出,二階曲率補償技術(shù)可有效降低基準(zhǔn)源的溫度,在-40℃~125℃的溫度范圍內(nèi),其電壓基準(zhǔn)輸出變化為0.26 mV,溫度系數(shù)為2.13 ppm/℃,完全可滿足12位100 MspsADC的系統(tǒng)要求。

3.2 PSRR的仿真

對比加入電源抑制比提高電路前后的電壓基準(zhǔn)源電路的電源抑制比仿真結(jié)果可以發(fā)現(xiàn):沒有加入PSR提高電路的電壓基準(zhǔn)源的電源抑制比在低頻條件下可達(dá)到-72 dB,在100 kHz條件下為-62 dB;加入PSR提高電路后,電壓基準(zhǔn)源的電源抑制比達(dá)到-101dB,在100 kHz的條件下,仍然能夠達(dá)到-81 dB。可以看出,引入PSR提高電路后,其PSR提高了29 dB。

4  結(jié)束語

本文對電壓基準(zhǔn)源引起的ADC系統(tǒng)的DNL誤差進(jìn)行了建模分析,提出了一種采用二階曲率補償技術(shù)的電壓基準(zhǔn)源電路,該電路運用低噪聲兩級運放進(jìn)行箝位,同時在采用共源共柵電流鏡技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了PSR提高電路。通過在基于TSMC 1.8 V 0.18 μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝條件下的仿真結(jié)果表明,該電路的溫度系數(shù)為2.13 ppm/℃,電源抑制比在低頻條件下可達(dá)到-101 dB,可以滿足12位100 Msps ADC的系統(tǒng)要求。

 

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