圖1所示電路在低歐姆范圍直至數(shù)百kΩ范圍內(nèi)產(chǎn)生精確的阻抗測量，同時還優(yōu)化了AD5933/AD5934的整體精度。
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圖1. 優(yōu)化信號鏈以提高阻抗測量精度（原理示意圖，未顯示所有連接和去耦）
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電路描述
AD5933和AD5934提供四個可編程輸出電壓范圍，各具有一個相關(guān)的輸出阻抗。例如，1.98V p-p 輸出電壓的輸出阻抗一般為200 Ω（見表1）。
此輸出阻抗會影響測量精度，在低kΩ范圍內(nèi)尤為突出，故在增益系數(shù)計算時應(yīng)將其考慮在內(nèi)。有關(guān)增益系數(shù)計算的詳情，請參見AD5933或AD5934數(shù)據(jù)手冊。在信號鏈內(nèi)的簡易緩沖器可防止輸出阻抗影響未知的阻抗測量。在挑選低輸出阻抗放大器時，應(yīng)保證足夠的帶寬來適應(yīng)AD5933/AD5934的激勵頻率。針對 AD8605/ AD8606/ AD8608系列CMOS運算放大器，低輸出阻抗的一個實現(xiàn)示例如圖2所示。在AV=1時，此放大器的輸出阻抗小于1 Ω（最高100 kHz），這是AD5933/AD5934的最高工作范圍。
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圖2. AD8605/AD8606/AD8608的輸出阻抗
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發(fā)射級和接收級的直流偏置匹配
AD5933/ AD5934四個可編程輸出電壓范圍具有四個相關(guān)偏置電壓（表2）例如，1.98 V p-p激勵電壓的偏壓為1.48 V。但是，如圖1所示，AD5933/AD5934的電流-電壓（I-V）接收級設(shè)為固定偏壓VDD/2。因此，對于3.3 V電源，發(fā)射偏壓為1.48 V，而接收偏壓為3.3 V/2 = 1.65 V。此電位差會引起測試中阻抗極化，并可導(dǎo)致阻抗測量不準(zhǔn)確。
一種解決方案是添加一個在低Hz范圍內(nèi)具有轉(zhuǎn)折頻率的簡單高通濾波器。消除發(fā)射級的直流偏置，并將交流信號重新偏置至VDD/2，在整個信號鏈中保持直流電平恒定。
選擇針對接收級優(yōu)化的I-V緩沖器
AD5933/AD5934的電流-電壓（I-V）放大級還可能輕微增加信號鏈的不準(zhǔn)確性。I-V轉(zhuǎn)換級易受放大器的偏置電流、失調(diào)電壓和CMRR影響。通過選擇適當(dāng)?shù)耐獠糠至⒎糯笃鱽韴?zhí)行I-V轉(zhuǎn)換，用戶可挑選一個具有低偏置電流和失調(diào)電壓規(guī)格、出色CMRR的放大器，提高I-V轉(zhuǎn)換的精度。該內(nèi)部放大器隨后可配置成一個簡單的反相增益級。
如AD5933/AD5934數(shù)據(jù)手冊中所述，電阻RFB仍根據(jù)系統(tǒng)的整體增益來選擇。
高精度阻抗測量的優(yōu)化信號鏈
圖1所示為測量低阻抗傳感器的建議配置。交流信號先經(jīng)過高通濾波并重新偏壓，之后利用一個超低輸出阻抗放大器進行緩沖。在外部完成I-V轉(zhuǎn)換后信號返回至AD5933/AD5934接收級。決定所需緩沖器的關(guān)鍵規(guī)格有超低輸出阻抗、單電源供電能力、低偏置電流、低失調(diào)電壓及出色的CMMR性能。一些推薦器件包括ADA4528-1,AD8628/AD8629、AD8605和AD8606。根據(jù)電路板布局，可使用單通道或雙通道放大器。偏置電阻（50 kΩ）和增益電阻（20 kΩ和RFB）兩者均使用精度0.1%的電阻以降低不準(zhǔn)確性。
電路評估與測試
圖1所示的原理圖可用來改善阻抗測量精度，并采取一些示例性措施。AD8606雙通道放大器在發(fā)射路徑上緩沖信號，并將接收信號從電流轉(zhuǎn)換成電壓。對于所示的三個示例，每次遞增頻率來計算增益系數(shù)，以消除頻率相關(guān)誤差。有關(guān)此解決方案的完整設(shè)計包，包括原理圖、材料清單、布局和Gerber文件，請登錄http://www.analog.com/zh/CN0187-DesignSupport 。所用軟件和評估板附帶的軟件相同，可訪問AD5933和AD5934產(chǎn)品頁面獲取。
示例1：低阻抗范圍
圖3、圖4及圖5所示為低阻抗測量的結(jié)果。圖5表示10.3 Ω測量并在擴展縱坐標(biāo)上顯示。
精度實現(xiàn)水平很大程度上取決于未知阻抗范圍相對于校準(zhǔn)電阻RCAL的大小幅度。因此，在此示例中，10.3 Ω的未知阻抗測量測得10.13 Ω，誤差約2%。選擇接近未知阻抗的RCAL可實現(xiàn)更精確的測量，即以RCAL為中心的未知阻抗范圍越小，測量精度越高。因此，對于更大未知阻抗范圍，可在各種RCAL電阻中切換以使用外部開關(guān)分解未知阻抗范圍。在RCAL增益系數(shù)計算期間可通過校準(zhǔn)消除開關(guān)的RON誤差。使用開關(guān)選擇各種RFB值可優(yōu)化ADC所示的信號動態(tài)范圍。
還應(yīng)注意，要實現(xiàn)更大范圍的測量，還可使用200 mV p-p范圍。如果未知Z范圍較小，可使用更大的輸出電壓范圍來優(yōu)化ADC動態(tài)范圍。
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圖3.低阻抗幅度測量結(jié)果
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圖4.低阻抗相位測量結(jié)果
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圖5. 10.3 Ω幅度測量結(jié)果（擴展坐標(biāo)）
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示例2：kΩ阻抗范圍
使用99.85 kΩ的 RCAL ，根據(jù)表2所示的設(shè)置條件可測得更寬的未知阻抗范圍。圖6至10記錄精度結(jié)果。要提高整體精度，請選擇更接近未知阻抗的 RCAL 值。例如，在圖9中，需要更接近217.5 kΩ ZC 值的 RCAL 。如果未知阻抗范圍較大，請使用多個 RCAL 電阻。
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圖6. ZCCAL = 99.85 kΩ時的幅度結(jié)果
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圖7. ZC = 47 pF、RCAL = 99.85 kΩ時的相位結(jié)果
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圖 8. ZC = 8.21 kΩ, RCAL = 99.85 kΩ
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圖 9. ZC = 217.25 kΩ, RCAL = 99.85 kΩ
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圖10. 示例2的幅度結(jié)果：R1、R2、R3、C5、C6
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示例3：并行R-C（R||C）測量
R||C型結(jié)構(gòu)也通常用于測量，，采用1 kΩ的RCAL、10 kΩ的R和10 nF的C，在頻率范圍4 kHz至100 kHz內(nèi)進行測量。圖11和12所示曲線表示幅度和相位結(jié)果和理想值的關(guān)系。
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圖11. ZC = 10 kΩ||10 nF, RCAL = 1 kΩ時的幅度結(jié)果
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圖12. ZC = 10 kΩ||10 nF, RCAL = 1 kΩ時的相位結(jié)果
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設(shè)置和測試
EVAL-CN0217-EB1Z軟件和EVAL-AD5933EBZ應(yīng)用板上所用的相同。有關(guān)電路板設(shè)置的詳情，請參見光盤內(nèi)的技術(shù)筆記。注意，原理圖有改動。EVAL-CN0217-EB1Z板上的鏈接如表4所示。還應(yīng)注意，RFB在評估板上位于R3，而 ZUNKNOWN 位于C4。
常見變化
電路中可使用其他運算放大器，例如ADA4528-1、 AD8628、 AD8629、 AD8605 和 AD8606。
系統(tǒng)應(yīng)用的切換選項
對于這個特定電路，ZUNKNOWN 和 RCAL 可手動互換。但在生產(chǎn)中應(yīng)使用低導(dǎo)通電阻開關(guān)，開關(guān)的選擇取決于未知阻抗范圍的大小以及所需測量結(jié)果精度。此文件中的示例僅使用一個校準(zhǔn)電阻，故可如圖13所示使用ADG849 等低導(dǎo)通電阻開關(guān)。還可使用四通道ADG812 等多通道開關(guān)解決方案。ZUNKNOWN 上的開關(guān)電阻所引起的誤差在校準(zhǔn)期間消除，但通過選擇超低RON開關(guān)，可進一步充分降低這些效應(yīng)。
