2012年12月－ 美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱NI）近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。 新的PXIe VNA基于創(chuàng)新型的雙源架構(gòu)，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz，擁有獨(dú)立調(diào)整的源代碼和源接入循環(huán)，可適用于眾多不同的測量應(yīng)用
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“NI在射頻和微波儀器上持續(xù)大力投入，將PXI的應(yīng)用領(lǐng)域擴(kuò)大至高端應(yīng)用。”NI射頻研究和開發(fā)副總裁Jin Bains表示，“NI PXIe-5632矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功能豐富，可顯著降低網(wǎng)絡(luò)測量成本，尤其是針對那些需要高度精確、快速和小封裝測量的大批量自動(dòng)化測試的應(yīng)用。”
產(chǎn)品特征 · 雙端口，3槽PXI Express矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz 。 · 功率范圍較寬，為-30dBm到+15 dBm，調(diào)節(jié)步長為0.01dB，用于測量有源設(shè)備的壓縮和S-參數(shù)。 · 帶有源接入循環(huán)的雙源架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)脈沖S參數(shù)測量和擴(kuò)展源功率范圍。 · 頻偏功能使用獨(dú)立調(diào)整的源代碼，實(shí)現(xiàn)對頻率轉(zhuǎn)換器件和熱S-參數(shù)的測量。 · 通過NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行業(yè)領(lǐng)先的編程接口，可簡化編程并加快測試開發(fā)速度，同時(shí)保證射頻測量質(zhì)量。 |
欲知更多，請?jiān)L問http://www.ni.com/vna/zhs/。
關(guān)于NI
自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI(www.ni.com）一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會的發(fā)展，確保客戶、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。