內(nèi)容簡(jiǎn)介：隨著半導(dǎo)體射頻微波器件的性能不斷提升，在片測(cè)試及T/R組件等典型應(yīng)用的測(cè)試指標(biāo)及要求也日趨復(fù)雜，不僅追求測(cè)試穩(wěn)定性和規(guī)模化，更需要優(yōu)化測(cè)試步驟提升效率。針對(duì)于射頻微波器件的全參數(shù)一體化測(cè)試需求，羅德與施瓦茨高端ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀針對(duì)典型應(yīng)用如放大器測(cè)試、變頻測(cè)試、脈沖測(cè)試以及頻譜分析等提供專業(yè)一體化測(cè)試解決方案。