基于STM32等精度測(cè)頻的光信號(hào)檢測(cè)裝置設(shè)計(jì)與驗(yàn)證 | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大小:535 K | |
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文檔介紹:基于STM32采用等精度測(cè)頻方法設(shè)計(jì)了一種可用于光信號(hào)檢測(cè)的裝置。該裝置由供電模塊、光轉(zhuǎn)頻模塊、頻率測(cè)量模塊和數(shù)據(jù)顯示模塊組成,其中,被測(cè)光信號(hào)在光轉(zhuǎn)頻模塊中通過(guò)硅光電二極管S1226-8BK轉(zhuǎn)成微弱電信號(hào),經(jīng)放大和濾波處理后輸入AD650轉(zhuǎn)換成頻率信號(hào)。頻率測(cè)量模塊使用ARM Cortex-M3內(nèi)核STM32F103RBT6作為處理器,結(jié)合一個(gè)D觸發(fā)器,對(duì)光轉(zhuǎn)頻模塊輸出的頻率信號(hào)進(jìn)行等精度測(cè)頻,測(cè)得的數(shù)據(jù)發(fā)送到上位機(jī)顯示。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本裝置測(cè)得的頻率信號(hào)均與光功率之間成很好的線性關(guān)系,與示波器測(cè)量結(jié)果亦相吻合,證明了本裝置可對(duì)光信號(hào)進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)。相對(duì)于常用的頻率測(cè)量法,本裝置具有測(cè)量誤差小的優(yōu)點(diǎn)。 | |
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