| 折疊偶極子陣列無芯標(biāo)簽極點(diǎn)特性分析 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大小：379 K | |
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| 文檔介紹：標(biāo)簽極點(diǎn)提取的準(zhǔn)確性受多種因素影響，以折疊偶極子陣列無芯標(biāo)簽為研究對象，開展無耗電介質(zhì)材料(厚度、相對介電常數(shù))對其極點(diǎn)分布的特性分析。仿真結(jié)果表明，隨著介質(zhì)厚度及其相對介電常數(shù)的增大，諧振極點(diǎn)的衰減因子及諧振頻率將呈現(xiàn)變小的趨勢，極點(diǎn)分布以類S型曲線向坐標(biāo)原點(diǎn)靠近。 | |
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