| 低導通電阻MOSFET測試中的自動校驗技術 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大小：427 K | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：導通電阻的準確測量是低導通電阻MOSFET測試中的一個難點。介紹了一種用于低導通電阻MOSFET測試過程中自動校驗測試系統的方法。通過在DUT板上增加高精度低阻值標準電阻測試回路的方法，在正式測試前對測試系統進行自動校驗，校驗合格后繼續對MOS管進行測試，否則將停止測試；避免了由于自動測試設備（ATE）、DUT板、金手指等測試單元的精度漂移、器件老化等因素導致測試不準確的情況，保證了產品的測試精度，對提升測試的品質具有重要意義。 | |
| 現在下載 | |
| VIP會員，AET專家下載不扣分；重復下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統工程研究所版權所有 京ICP備10017138號-2