| 嵌入式系統(tǒng)內(nèi)存檢測(cè)分析 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大小：257 K | |
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| 文檔介紹：在大部分嵌入式系統(tǒng)中，內(nèi)存的好壞主要依賴于內(nèi)存芯片廠家的檢測(cè)，對(duì)系統(tǒng)運(yùn)行中出現(xiàn)的內(nèi)存偶然故障，缺乏有效的檢測(cè)手段。對(duì)嵌入式系統(tǒng)中內(nèi)存檢測(cè)的各個(gè)階段、內(nèi)存檢測(cè)方式以及全空間檢測(cè)方法等進(jìn)行了詳細(xì)描述。 | |
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