| 利用6517A型靜電計/高阻表對惰性氣體或高真空中的小型晶體進(jìn)行高值電阻測量 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：keithley | |
| 文檔大小：934 K | |
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| 文檔介紹：晶體材料是現(xiàn)代電子和光電子技術(shù)的基礎(chǔ)。因此，這些材料的電子特性，如(各向異性) 電導(dǎo)率和光電導(dǎo)率以及與這些特性有關(guān)的溫度依存性，都是研究人員關(guān)注的問題。采用大量結(jié)晶技術(shù)的晶體生長尺寸可能不大，但往往表現(xiàn)出極高的電阻。這個應(yīng)用筆記說明如何利用專門設(shè)計的測量室和分子束沉積(MBD)系統(tǒng)（在晶體或薄膜生長過程中對其進(jìn)行現(xiàn)場測量）來測量高達(dá)1017Ω的電阻。 | |
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